位于所述晶圓承載機(jī)構(gòu)下方設(shè)置有第二光源機(jī)構(gòu)?，F(xiàn)有的半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備大都基于暗場(chǎng)照明和熒光激發(fā)照明(pl)兩種方法，其中暗場(chǎng)照明能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)大尺寸表面缺陷的觀察，pl模式則能實(shí)現(xiàn)對(duì)亞表面缺陷的觀察。后期，個(gè)別廠商推出的基于共焦照明成像系統(tǒng)的缺陷檢測(cè)方案，實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小尺寸缺陷的檢測(cè)。倏逝場(chǎng)移頻照明能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)被檢測(cè)樣品表面缺陷更高空間頻譜信息的獲取，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)更小尺寸缺陷的識(shí)別，但是目前基于移頻照明的缺陷檢測(cè)方法和設(shè)備仍未被報(bào)道。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的在于提出一種新型半導(dǎo)體晶圓表面缺陷的快速超高分辨檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)在集成了暗場(chǎng)照明成像模式、pl成像模式以及共聚焦掃描成像模式的同時(shí)，引入了移頻...

圖32a至圖32c揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的如圖27所示的振幅檢測(cè)電路27092的示例。該振幅檢測(cè)電路27092示例性包括參考電壓生成電路和比較電路。如圖32b所示，參考電壓生成電路使用d/a轉(zhuǎn)換器32118將主控制器26094的數(shù)字輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬直流參考電壓vref+和vref-，如圖32c所示。比較電路使用窗口比較器32114及與門(mén)32116來(lái)比較電壓衰減電路26090輸出的振幅vin和參考電壓vref+和vref-。如果衰減后的振幅vin超過(guò)參考電壓vref+和/或vref-，那么振幅檢測(cè)電路27092發(fā)送報(bào)警信號(hào)到主機(jī)25080，主機(jī)25080接收到報(bào)警信號(hào)則關(guān)閉聲波發(fā)...

其中該中心凹陷區(qū)域是方形。在一實(shí)施例中，為了讓基板區(qū)域的電阻值降低，其中在該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該凹陷區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。在一實(shí)施例中，為了讓基板區(qū)域的電阻值降低，其中在該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***環(huán)狀凹陷區(qū)域或該中心凹陷區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。在一實(shí)施例中，為了讓基板區(qū)域的電阻值降低，其中在該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域的該***表面至該第二表面的距離。在一實(shí)施例中，為了節(jié)省金屬層的厚度以便節(jié)省成本，其中該第四表面...

圖32a至圖32c揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的如圖27所示的振幅檢測(cè)電路27092的示例。該振幅檢測(cè)電路27092示例性包括參考電壓生成電路和比較電路。如圖32b所示，參考電壓生成電路使用d/a轉(zhuǎn)換器32118將主控制器26094的數(shù)字輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬直流參考電壓vref+和vref-，如圖32c所示。比較電路使用窗口比較器32114及與門(mén)32116來(lái)比較電壓衰減電路26090輸出的振幅vin和參考電壓vref+和vref-。如果衰減后的振幅vin超過(guò)參考電壓vref+和/或vref-，那么振幅檢測(cè)電路27092發(fā)送報(bào)警信號(hào)到主機(jī)25080，主機(jī)25080接收到報(bào)警信號(hào)則關(guān)閉聲波發(fā)...

所述有機(jī)胺為二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、乙胺、二乙胺、三乙胺、三丙胺，N，N-二甲基乙醇胺、N，N-甲基乙基乙醇胺、N-甲基二乙醇胺和三乙醇胺一種或多種。所述有機(jī)羧酸選自丙二酸、草酸、乙二胺四乙酸鹽和檸檬酸中的一種或者多種。所述胍類(lèi)為四甲基胍、碳酸胍、醋酸胍、3-胍基丙酸、聚六亞甲基胍和對(duì)胍基苯甲酸。所述清洗液的pH值為2～5。實(shí)施例3一種用于半導(dǎo)體晶圓等離子蝕刻殘留物的清洗液，其是由如下重量份數(shù)的原料組成：有機(jī)溶劑48份、氟化物12份、氯化物11份、甲基丙烯酸甲酯6份、有機(jī)胺7份、氨基酸14份、胍類(lèi)15份、苯并三氮唑5份、有機(jī)羧酸19份、硫脲23份和水64份。所述有機(jī)溶...

術(shù)語(yǔ)“安裝”、“相連”、“連接”、“固定”等術(shù)語(yǔ)應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機(jī)械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過(guò)中間媒介間接相連，可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語(yǔ)在本發(fā)明中的具體含義。如圖1所示為一種半導(dǎo)體晶圓表面缺陷的快速檢測(cè)系統(tǒng)圖，包括入射光源101，耦合物鏡102，***透鏡103，***104，第二透鏡105，***濾光片106，***偏振片107，柱面鏡108，第三透鏡109，***相機(jī)110，第四透鏡111，第二偏振片112，第二濾光片113，偏振分光棱鏡11...

并均勻地到達(dá)位于腔室c內(nèi)的半導(dǎo)體晶圓200。在實(shí)際應(yīng)用中，半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備100包含多個(gè)微波產(chǎn)生器130。一般而言，微波產(chǎn)生器130平均地環(huán)繞腔室c分布，如此一來(lái)，微波w可均勻地進(jìn)入腔室c內(nèi)，并均勻地到達(dá)位于腔室c內(nèi)的半導(dǎo)體晶圓200，從而促進(jìn)半導(dǎo)體晶圓200的干燥過(guò)程。舉例而言，如圖1所示，至少兩個(gè)微波產(chǎn)生器130平均地分布于殼體120外側(cè)，使其平均地環(huán)繞腔室c分布。另外，應(yīng)當(dāng)理解的是，本發(fā)明的殼體120基本上可設(shè)置于產(chǎn)業(yè)中現(xiàn)有的單晶圓濕處理設(shè)備(圖未示)上。一般而言，單晶圓濕處理設(shè)備具有旋轉(zhuǎn)基座，其用以承載單一片半導(dǎo)體晶圓，以于單晶圓濕處理設(shè)備內(nèi)對(duì)半導(dǎo)體晶圓進(jìn)行各種處理。經(jīng)單晶圓...

上述步驟7210至7240可以重復(fù)操作以此來(lái)縮小內(nèi)爆時(shí)間τi的范圍。在知道內(nèi)爆時(shí)間τi后，τ1可以在安全系數(shù)下設(shè)置為小于τi的值。以下段落用于敘述本實(shí)驗(yàn)的一實(shí)例。假設(shè)圖案結(jié)構(gòu)為55nm的多晶硅柵線，超聲波的頻率為1mhz，使用prosys制造的超聲波或兆聲波裝置，采用間隙振蕩模式(在pct/cn2008/073471中披露)操作以在晶圓內(nèi)和晶圓間獲得更均勻能量分布。以下表2總結(jié)了其他試驗(yàn)參數(shù)以及**終的圖案損傷數(shù)據(jù)：表2在一個(gè)試驗(yàn)中，當(dāng)τ1＝2ms(或周期數(shù)為2000)時(shí)，前面提到的聲波清洗工藝在55nm的特征尺寸下，對(duì)圖案結(jié)構(gòu)造成的損傷高達(dá)1216個(gè)點(diǎn)。當(dāng)τ1＝(或周期數(shù)為100)時(shí)...

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種可防熱變形的半導(dǎo)體晶圓切割裝置。背景技術(shù)：目前，隨著科技水平的提高，半導(dǎo)體元件被使用的越來(lái)越***，半導(dǎo)體在制作過(guò)程中，其中一項(xiàng)工序?yàn)榘压桢V通過(guò)切割的方式制作成硅晶圓，一般的硅晶圓切割裝置，是通過(guò)電機(jī)螺桿傳動(dòng)送料的，這種送料方式會(huì)使硅錠的移動(dòng)不夠準(zhǔn)確，導(dǎo)致每個(gè)晶圓的厚度不均勻，并且螺桿長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作容易發(fā)***熱扭曲變形，**終導(dǎo)致切割位置偏移，另外，切割片在連續(xù)切割時(shí)，容易發(fā)熱，導(dǎo)致晶圓受熱變形，但由于晶圓很薄，無(wú)法用直接噴冷卻水的方式冷卻，會(huì)導(dǎo)致晶圓在切割過(guò)程中被沖擊變形。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的在于提供一種可防熱變形的半導(dǎo)體晶圓切割裝置，用于...

事實(shí)上，材料產(chǎn)業(yè)相關(guān)基礎(chǔ)**技術(shù)早已被國(guó)際大廠壟斷，而基礎(chǔ)**又是材料產(chǎn)業(yè)必備要素，同時(shí)國(guó)外廠商又不愿將**出售給中國(guó)，因此在基礎(chǔ)**瓶頸的突破上進(jìn)度緩慢。人才挑戰(zhàn)突破技術(shù)的關(guān)鍵在于人才。近期關(guān)于中國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)人才短缺和人才挖角有諸多討論，根據(jù)統(tǒng)計(jì)，截止2020年中國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)中高階人才缺口將突破10萬(wàn)人，中國(guó)半導(dǎo)體材料產(chǎn)業(yè)多年來(lái)發(fā)展緩慢，與其人才儲(chǔ)備嚴(yán)重不足息息相關(guān)。目前**已為半導(dǎo)體材料產(chǎn)業(yè)***政策和資金障礙，下一步將著重解決人才引進(jìn)和人才培養(yǎng)方面的問(wèn)題。認(rèn)證挑戰(zhàn)與半導(dǎo)體材料認(rèn)證緊密相連的就是產(chǎn)品良率，良率好壞決定代工廠直接競(jìng)爭(zhēng)力，因此各中下游代工制造廠商對(duì)上游材料的認(rèn)證非常...

所述有機(jī)胺為二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、乙胺、二乙胺、三乙胺、三丙胺，N，N-二甲基乙醇胺、N，N-甲基乙基乙醇胺、N-甲基二乙醇胺和三乙醇胺一種或多種。所述有機(jī)羧酸選自丙二酸、草酸、乙二胺四乙酸鹽和檸檬酸中的一種或者多種。所述胍類(lèi)為四甲基胍、碳酸胍、醋酸胍、3-胍基丙酸、聚六亞甲基胍和對(duì)胍基苯甲酸。所述清洗液的pH值為2～5。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明的清洗液能有效***金屬污染物的殘留問(wèn)題，同時(shí)對(duì)金屬和非金屬的腐蝕速率較小，有效改善了一般氟類(lèi)清洗液不能同時(shí)控制金屬和非金屬腐蝕速率的問(wèn)題，提高化學(xué)清洗質(zhì)量；對(duì)殘留物的清洗時(shí)間明顯縮短，效率提高；由于不存在...

該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域完全包圍該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域，該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域完全包圍該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域。進(jìn)一步的，為了保護(hù)該金屬層，并且降低物理應(yīng)力與熱應(yīng)力的影響，該基板結(jié)構(gòu)更包含：一樹(shù)酯層，具有相對(duì)應(yīng)的一第五表面與一第六表面，其中該第五表面的形狀相應(yīng)于該第四表面。進(jìn)一步的，為了讓基板結(jié)構(gòu)所承載的半導(dǎo)體組件的設(shè)計(jì)簡(jiǎn)化，其中該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域依序包含***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度相同。進(jìn)一步的，為了讓基板結(jié)構(gòu)所承載的半導(dǎo)體組件的設(shè)計(jì)更加簡(jiǎn)化，其中該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度相...

結(jié)構(gòu)500所包含的該金屬層510的第四表面514并不是像該結(jié)構(gòu)400所包含的該金屬層310的第四表面314一樣是平面。第四表面514的剖面相應(yīng)于該金屬層的第三表面513的剖面。該金屬層510的第四表面514與該晶圓層320的***表面321的**短距離，要小于該金屬層310的第四表面314與該晶圓層320的***表面321的**短距離。由于該結(jié)構(gòu)500的金屬層510的大部分比該結(jié)構(gòu)400的金屬層310的大部分較薄，因此可以節(jié)省金屬本身的成本，也可以節(jié)省制作該金屬層510的步驟的成本。請(qǐng)參考圖5b所示，其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)500的剖面示意圖。圖5b所示的實(shí)施例是圖5a...

因?yàn)榍逑匆旱臏囟冗h(yuǎn)低于氣體和/或蒸汽溫度。在一些實(shí)施例中，直流輸出的振幅，可以是正的也可以是負(fù)的，可以大于(圖片中未顯示)，等于(如圖16a和16b所示)或小于(如圖16c所示)在τ1時(shí)間段內(nèi)用于在清洗液中制造氣穴振蕩的電源輸出功率p1。圖17揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的晶圓清洗工藝。該晶圓清洗工藝也與圖7a-7e所示的相類(lèi)似，除了圖7d所示的步驟7050。該晶圓清洗工藝使電源輸出的相位反相，同時(shí)保持在時(shí)間段τ1內(nèi)施加的相同頻率f1，因此，氣泡氣穴振蕩能夠迅速停止。結(jié)果，氣泡內(nèi)氣體和/或蒸汽的溫度開(kāi)始降低，因?yàn)榍逑匆旱臏囟冗h(yuǎn)低于氣體和/或蒸汽溫度。參考圖17所示，在τ2時(shí)間段內(nèi)電源輸...

半導(dǎo)體晶圓和設(shè)備康耐視解決方案支持晶圓和半導(dǎo)體設(shè)備制造過(guò)程RelatedProductsIn-Sight視覺(jué)系統(tǒng)擁有高級(jí)機(jī)器視覺(jué)技術(shù)的簡(jiǎn)單易用的工業(yè)級(jí)智能相機(jī)固定式讀碼器使用簡(jiǎn)單且成本媲美激光掃描儀的視覺(jué)讀碼器。康耐視機(jī)器視覺(jué)解決方案是從晶圓制造到集成電路(IC)封裝和安裝的半導(dǎo)體設(shè)備制造流程中必備模塊?？的鸵暪ぞ吣芴幚?**的集成電路(IC)封裝類(lèi)型，包括引線工件、系統(tǒng)芯片(SoC)和微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)設(shè)備，并可在裝配過(guò)程中提供可追溯性。視覺(jué)工具在非常具挑戰(zhàn)的環(huán)境下定位晶圓、晶片和包裝特征，并可檢測(cè)低對(duì)比度圖像和有噪音的圖像、可變基準(zhǔn)圖案和其他零件差異。康耐視支持晶圓和半導(dǎo)體設(shè)備...

所述拉桿45向上延伸部分伸出外界，且其頂面固設(shè)有手握球46，所述限制塊39頂面與所述滑動(dòng)腔43的頂壁之間固定安裝有彈簧44，當(dāng)所述橫條33帶動(dòng)所述第二齒牙34向上移動(dòng)時(shí)，所述第二齒牙34可抵接所述限制塊39，并使所述限制塊39向上移動(dòng)，進(jìn)而可使所述限制塊39離開(kāi)所述限制腔42，則可使所述滑塊47能夠正常向左移動(dòng)，當(dāng)所述滑塊47需要向右移動(dòng)時(shí)，手動(dòng)向上拉動(dòng)所述手握球46，使所述限制塊39向上移動(dòng)，并手動(dòng)向右拉動(dòng)所述手拉塊40，則所述橫板41可帶動(dòng)所述滑塊47向右移動(dòng)。另外，在一個(gè)實(shí)施例中，所述升降塊15的內(nèi)壁里固嵌有第二電機(jī)16，所述第二電機(jī)16的右側(cè)面動(dòng)力連接設(shè)有切割軸51，所述切割片...

本發(fā)明是關(guān)于一種半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備。背景技術(shù)：半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)涉及各種制造與測(cè)試過(guò)程，而其中一些過(guò)程涉及化學(xué)處理。在化學(xué)處理過(guò)程中，化學(xué)溶液接觸晶圓并與其發(fā)生反應(yīng)。在化學(xué)處理后，以去離子水(deionizedwater，diw)對(duì)晶圓進(jìn)行清洗處理，應(yīng)接著先干燥晶圓以避免晶圓損壞，并維持接下來(lái)的過(guò)程中的執(zhí)行精細(xì)度。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的一方面是在于提出一種可簡(jiǎn)化半導(dǎo)體晶圓干燥的過(guò)程并有效降低作業(yè)成本的半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備。依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式，一種半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備包含基座、殼體以及微波產(chǎn)生器。基座被配置成承載半導(dǎo)體晶圓。殼體與基座形成被配置成容納半導(dǎo)體晶圓的腔室。殼體具有遠(yuǎn)離基座的排氣口。微...

所述拉桿45向上延伸部分伸出外界，且其頂面固設(shè)有手握球46，所述限制塊39頂面與所述滑動(dòng)腔43的頂壁之間固定安裝有彈簧44，當(dāng)所述橫條33帶動(dòng)所述第二齒牙34向上移動(dòng)時(shí)，所述第二齒牙34可抵接所述限制塊39，并使所述限制塊39向上移動(dòng)，進(jìn)而可使所述限制塊39離開(kāi)所述限制腔42，則可使所述滑塊47能夠正常向左移動(dòng)，當(dāng)所述滑塊47需要向右移動(dòng)時(shí)，手動(dòng)向上拉動(dòng)所述手握球46，使所述限制塊39向上移動(dòng)，并手動(dòng)向右拉動(dòng)所述手拉塊40，則所述橫板41可帶動(dòng)所述滑塊47向右移動(dòng)。另外，在一個(gè)實(shí)施例中，所述升降塊15的內(nèi)壁里固嵌有第二電機(jī)16，所述第二電機(jī)16的右側(cè)面動(dòng)力連接設(shè)有切割軸51，所述切割片...

在步驟10010中，將超聲波或兆聲波裝置置于晶圓的上表面附近。在步驟10020中，將清洗液，可以是化學(xué)液或摻了氣體的水噴射到晶圓表面以填滿晶圓和聲波裝置之間的間隙。在步驟10030中，卡盤(pán)攜帶晶圓開(kāi)始旋轉(zhuǎn)以進(jìn)行清洗工藝。在步驟10040中，頻率為f1以及功率水平為p1的電源被應(yīng)用于聲波裝置。在步驟10050中，當(dāng)頻率保持在f1時(shí)，電源的功率水平在氣泡內(nèi)氣體和/或蒸汽的溫度達(dá)到內(nèi)爆溫度ti之前，或在時(shí)間τ1達(dá)到由公式(11)計(jì)算的τi之前，降低到p2。在步驟10060中，氣泡內(nèi)氣體和/或蒸汽溫度降至接近室溫t0或持續(xù)時(shí)間達(dá)到τ2后，電源的功率水平恢復(fù)到p1。在步驟10070中，檢查晶圓的...

在氣泡內(nèi)的氣體和/或蒸汽溫度降至室溫t0或達(dá)到時(shí)間段τ2后(在時(shí)間段τ2內(nèi)，設(shè)置電源輸出為零)，電源輸出恢復(fù)至頻率f1及功率水平p1。在步驟15270中，檢查晶圓的清潔度，如果晶圓尚未清潔到所需程度，則重復(fù)步驟15210-15260?；蛘撸赡懿恍枰诿總€(gè)周期內(nèi)檢查清潔度，取而代之的是，使用的周期數(shù)可能是預(yù)先用樣品晶圓通過(guò)經(jīng)驗(yàn)確定。參考圖15d所示，氣泡內(nèi)氣體和/或蒸汽的溫度不需要冷卻至室溫t0，但是**好使溫度冷卻至遠(yuǎn)低于內(nèi)爆溫度ti。此外，在步驟15250中，只要?dú)馀菖蛎浟Σ黄茐幕驌p壞圖案結(jié)構(gòu)15034，氣泡的尺寸可以略大于圖案結(jié)構(gòu)15034的間距w。參考圖15d所示，步驟1524...

氣泡內(nèi)氣體或蒸汽的溫度不需要冷卻至室溫或清洗液的溫度。它可以是高于室溫或清洗液溫度的一定溫度。較佳地，該溫度是明顯低于內(nèi)爆溫度ti。根據(jù)公式(8)和(9)，如果已知(δt-δt)，可以計(jì)算出內(nèi)爆時(shí)間τi。但通常情況下，(δt-δt)不太容易被計(jì)算出或直接得到。然而可以憑經(jīng)驗(yàn)直接得到τi的值。圖7e揭示了根據(jù)經(jīng)驗(yàn)得出內(nèi)爆時(shí)間τi值的流程圖。在步驟7210中，基于表1，選擇五個(gè)不同的時(shí)間段τ1作為實(shí)驗(yàn)設(shè)定(doe)的條件。在步驟7220中，選擇至少是τ1十倍的時(shí)間段τ2，在***次測(cè)試時(shí)**好是100倍的τ1。在步驟7230中，使用確定的功率水平p0運(yùn)行以上五種條件來(lái)分別清洗具有圖案結(jié)構(gòu)的...

該中心凹陷區(qū)域位于該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域當(dāng)中，該***環(huán)狀凹陷區(qū)域位于該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域當(dāng)中。進(jìn)一步的，為了更彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，其中該***芯片區(qū)域更包含該屏蔽層未覆蓋的一第二環(huán)狀凹陷區(qū)域與該屏蔽層覆蓋的一第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域完全包圍該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域，該第二環(huán)狀凹陷區(qū)域包圍該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域，該第二內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域包圍該中心凹陷區(qū)域。進(jìn)一步的，為了保護(hù)該金屬層，并且降低物理應(yīng)力與熱應(yīng)力的影響，該晶圓制造方法更包含：在該金屬層上涂布樹(shù)酯層。進(jìn)一步的，為了使用晶圓級(jí)芯片制造技術(shù)來(lái)加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作，上述的各步驟是針對(duì)該晶圓層的該多個(gè)芯片區(qū)域同時(shí)施作。進(jìn)一步的，...

為了盡可能地利用晶圓的面積來(lái)制作不同芯片，其中該半導(dǎo)體晶圓當(dāng)中預(yù)定切割出一第二芯片區(qū)域，包含如該***芯片區(qū)域相同的該基板結(jié)構(gòu)，該***芯片區(qū)域與該第二芯片區(qū)域的形狀不同。進(jìn)一步的，為了使用晶圓級(jí)芯片制造技術(shù)來(lái)加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作，其中該半導(dǎo)體晶圓當(dāng)中預(yù)定切割出多個(gè)芯片區(qū)域，該多個(gè)芯片區(qū)域當(dāng)中的每一個(gè)都包含如該***芯片區(qū)域相同的該基板結(jié)構(gòu)，該多個(gè)芯片區(qū)域當(dāng)中的每一個(gè)芯片區(qū)域和該***芯片區(qū)域的形狀都相同。根據(jù)本申請(qǐng)的一方案，提供一種晶圓制造方法，其特征在于，包含：據(jù)所欲切割的多個(gè)芯片區(qū)域的大小與圖樣，在一晶圓層的一第二表面上涂布屏蔽層，在該多個(gè)芯片區(qū)域其中的一***芯片區(qū)域...

氣穴振蕩是一種混沌現(xiàn)象?？栈瘹馀莸漠a(chǎn)生及其破裂受到很多物理參數(shù)的影響。這些猛烈的氣穴振蕩例如不穩(wěn)定的氣穴振蕩或微噴射將損傷這些圖案結(jié)構(gòu)(鰭結(jié)構(gòu)、槽和通孔)。在傳統(tǒng)的超聲波或兆聲波清洗過(guò)程中，只有當(dāng)功率足夠高，例如大于5-10瓦時(shí)，才會(huì)產(chǎn)生***的顆粒去除效率(“pre”)。然而，當(dāng)功率大于約2瓦時(shí)，晶圓開(kāi)始有明顯的損傷。因此，很難找到功率窗口使得晶圓在被有效清洗時(shí)避免重大的損傷。因此，維持穩(wěn)定或可控的氣穴振蕩是控制聲波機(jī)械力低于損傷限度而仍然能夠有效地去除圖案結(jié)構(gòu)中的雜質(zhì)顆粒的關(guān)鍵。因此，提供一種系統(tǒng)和方法，用于控制在晶圓清洗過(guò)程中由超聲波或兆聲波設(shè)備產(chǎn)生的氣泡氣穴振蕩，以便能夠有效地...

該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度相同。進(jìn)一步的，為了讓基板結(jié)構(gòu)所承載的半導(dǎo)體組件的設(shè)計(jì)更加簡(jiǎn)化，其中該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度相同。進(jìn)一步的，為了讓基板結(jié)構(gòu)適應(yīng)所承載的半導(dǎo)體組件的不同設(shè)計(jì)，其中該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域依序包含***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域，該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度不同。進(jìn)一步的，為了讓基板結(jié)構(gòu)適應(yīng)所承載的半導(dǎo)體組件的具有更大的設(shè)計(jì)彈性，其中該***邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第二邊結(jié)構(gòu)區(qū)域、該第三邊結(jié)構(gòu)區(qū)域與該第四邊結(jié)構(gòu)區(qū)域的寬度均不相同。進(jìn)一步的，為了配合大多數(shù)矩形芯片的形狀，...

用于集成電路生產(chǎn)的材料依然以進(jìn)口為主，中國(guó)生產(chǎn)替代空間非常龐大。未來(lái)隨著多條中國(guó)新建晶圓制造產(chǎn)線陸續(xù)投產(chǎn)，預(yù)計(jì)2018年將為中國(guó)當(dāng)?shù)匕雽?dǎo)體材料產(chǎn)業(yè)發(fā)展帶來(lái)新契機(jī)。未來(lái)中國(guó)半導(dǎo)體材料產(chǎn)業(yè)發(fā)展趨勢(shì)將從兩方面同步進(jìn)行：集中優(yōu)勢(shì)資源，針對(duì)各類(lèi)別半導(dǎo)體材料，以一部分大廠為首，進(jìn)行資源再整合；建立完善的半導(dǎo)體材料體系，加快**材料的研發(fā)，實(shí)現(xiàn)中國(guó)國(guó)產(chǎn)替代。中國(guó)半導(dǎo)體材料產(chǎn)業(yè)雖然克服了政策和資金的障礙，但仍面對(duì)來(lái)自技術(shù)、人才與客戶認(rèn)證等方面的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。未來(lái)產(chǎn)業(yè)將著重解決以下問(wèn)題：基礎(chǔ)**瓶頸突破進(jìn)展緩慢、半導(dǎo)體材料人才儲(chǔ)備和培養(yǎng)嚴(yán)重不足、聯(lián)合**協(xié)調(diào)作用，以及率先突破當(dāng)?shù)卣J(rèn)證關(guān)卡。目前中國(guó)半導(dǎo)體材料...

功率為p1時(shí)檢測(cè)到的通電時(shí)間和預(yù)設(shè)時(shí)間τ1進(jìn)行比較，如果檢測(cè)到的通電時(shí)間比預(yù)設(shè)時(shí)間τ1長(zhǎng)，檢測(cè)電路發(fā)送報(bào)警信號(hào)到主機(jī)，主機(jī)接收到報(bào)警信號(hào)則關(guān)閉超聲波或兆聲波電源；檢測(cè)電路還比較檢測(cè)到的斷電時(shí)間和預(yù)設(shè)時(shí)間τ2，如果檢測(cè)到的斷電時(shí)間比預(yù)設(shè)時(shí)間τ2短，檢測(cè)電路發(fā)送報(bào)警信號(hào)到主機(jī)，主機(jī)接收到報(bào)警信號(hào)則關(guān)閉超聲波或兆聲波電源。在一個(gè)實(shí)施例中，超聲波或兆聲波裝置與噴頭相結(jié)合并置于半導(dǎo)體基板附近，超聲波或兆聲波裝置的能量通過(guò)噴頭噴出的液柱傳遞到半導(dǎo)體基板。本發(fā)明提供了另一種使用超聲波或兆聲波清洗半導(dǎo)體基板的裝置，包括卡盤(pán)、超聲波或兆聲波裝置、至少一個(gè)噴頭、超聲波或兆聲波電源、主機(jī)和檢測(cè)電路?？ūP(pán)支撐...

本申請(qǐng)還提供具有上述基板結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體晶圓，以及制作上述基板結(jié)構(gòu)的晶圓制造方法。根據(jù)本申請(qǐng)的方案，提供具有邊框結(jié)構(gòu)的基板結(jié)構(gòu)、半導(dǎo)體晶圓、以及晶圓制作方法。根據(jù)本申請(qǐng)的一方案，提供一種承載半導(dǎo)體組件的基板結(jié)構(gòu)，其特征在于，包含：一晶圓層，具有相對(duì)應(yīng)的一***表面與一第二表面，其中該第二表面具有向該***表面凹陷的一中心凹陷區(qū)域，該中心凹陷區(qū)域位于該第二表面當(dāng)中，使得該晶圓層的一邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域環(huán)繞在該第二表面周?chē)?；以及一金屬層，具有相?duì)應(yīng)的一第三表面與一第四表面，該第三表面完全貼合于該第二表面。進(jìn)一步的，為了彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度，其中該第二表面更包含具有向該***表面凹陷的一***環(huán)狀凹...

所述有機(jī)胺為二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、乙胺、二乙胺、三乙胺、三丙胺，N，N-二甲基乙醇胺、N，N-甲基乙基乙醇胺、N-甲基二乙醇胺和三乙醇胺一種或多種。所述有機(jī)羧酸選自丙二酸、草酸、乙二胺四乙酸鹽和檸檬酸中的一種或者多種。所述胍類(lèi)為四甲基胍、碳酸胍、醋酸胍、3-胍基丙酸、聚六亞甲基胍和對(duì)胍基苯甲酸。所述清洗液的pH值為2～5。實(shí)施例3一種用于半導(dǎo)體晶圓等離子蝕刻殘留物的清洗液，其是由如下重量份數(shù)的原料組成：有機(jī)溶劑48份、氟化物12份、氯化物11份、甲基丙烯酸甲酯6份、有機(jī)胺7份、氨基酸14份、胍類(lèi)15份、苯并三氮唑5份、有機(jī)羧酸19份、硫脲23份和水64份。所述有機(jī)溶...

清洗液中的氣泡可以在每次***時(shí)段的清洗后充分冷卻，以避免損傷晶圓。根據(jù)以下實(shí)施例的詳細(xì)描述，本發(fā)明的其他方面、特征及技術(shù)對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員將是顯而易見(jiàn)的。附圖說(shuō)明構(gòu)成本說(shuō)明書(shū)一部分的附圖被包括以描述本發(fā)明的某些方面。對(duì)本發(fā)明以及本發(fā)明提供的系統(tǒng)的組成和操作的更清楚的概念，通過(guò)參考示例將變得更加顯而易見(jiàn)，因此，非限制性的，在附圖中示出的實(shí)施例，其中類(lèi)似的附圖標(biāo)記(如果它們出現(xiàn)在一個(gè)以上的視圖)指定相同的元件，通過(guò)參考這些附圖中的一個(gè)或多個(gè)附圖并結(jié)合本文給出的描述，可以更好地理解本發(fā)明，應(yīng)當(dāng)注意，附圖中示出的特征不是必須按比例繪制。圖1a至圖1b揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的使用超聲波...