膜電極泄漏檢測

來源: 發(fā)布時間:2024-12-17

在單嚙和變速箱(減速機)偏差分析方面,2速或1速變速箱(減速機)零件加工必須滿足高精度要求,以確保零件裝配后不會對車輛造成額外的噪音。SF測試是齒輪加工后的嚙合旋轉(zhuǎn)測試。測試時,標(biāo)準(zhǔn)齒輪至于適當(dāng)?shù)陌惭b位置:其與待測齒輪齒隙適當(dāng),且單面嚙合。然后光學(xué)編碼器測量其相對于標(biāo)準(zhǔn)齒輪的角位移。SF測試結(jié)果包括變速箱(減速機)偏差數(shù)據(jù)的采集和噪音分析。Marposs還開發(fā)了一種特殊的單嚙測試方案,用于在實驗室測試原型零件,以改善齒輪設(shè)計過程。渦流探測(EC)是一系列無損技術(shù)(NDT),用于檢查被測組件的表面質(zhì)量和材料特性。膜電極泄漏檢測

檢測設(shè)備

Optoflash是世界上軸向可以采用多個光學(xué)傳感器的測量系統(tǒng)。這意味著可以通過不同的光學(xué)傳感器分別獲取圖像,然后將所有圖像完美地結(jié)合在一起,從而生成一幅單一的工件合成圖像,并可確保合成邊緣毫無任何斷點和缺口。得益于這一獨特的設(shè)計,Optoflash測量系統(tǒng)無需光學(xué)系統(tǒng)或工件本身進行任何軸向運動,就可以覆蓋長度達(dá)300mm的測量范圍。當(dāng)前,作為世界上前列的軸向可以采用多個光學(xué)傳感器的測量系統(tǒng)。Optoflash的總測量時間可達(dá)5.6秒!電芯電性能測試馬波斯Hetech泄漏檢測方案試漏檢測的目的是發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中非常細(xì)微的泄漏,以確保產(chǎn)品的質(zhì)量。

膜電極泄漏檢測,檢測設(shè)備

Marposs為各種制造過程的控制和·優(yōu)化提供解決方案,從單個組件到裝配制程的控制,以及整個裝配方案的功能檢查。通過反電動勢分析檢查永磁轉(zhuǎn)子的磁場均勻性、檢查感應(yīng)電機鼠籠轉(zhuǎn)子條的局部缺陷、繞線轉(zhuǎn)子的絕緣測試,包括局部放電測量等。研究表明,在某類電機中使用hairpin扁線繞組具有許多優(yōu)點。更高的銅槽填充系數(shù)減少了熱量,提高轉(zhuǎn)矩和功率密度,從而減小電動汽車電機的尺寸。Hairpin有靈活的結(jié)構(gòu)和獨特的形狀:尺寸、角度和截面等均有不同。這就是為什么每一個hairpin的幾何尺寸和質(zhì)量都有必要檢查,以確保質(zhì)量穩(wěn)定。

對于光學(xué)測量不到的特征,G25是一個完美的互補。這些測量特征通常包括:?鍵槽深度,角度,對稱度?孔?平面的形位特征?軸向跳動。接觸式軸向測頭通過智能集成的軸向接觸式測頭,可進一步拓展Optoquick的功能。這使得Optoquick能夠?qū)崿F(xiàn)以下附加功能:?小公差的軸向跳動度?用戶定義半徑處的軸向長度?穿過工件軸線的測量?光學(xué)測量不到的區(qū)域。通過將光學(xué)與接觸式技術(shù),以及完整的馬波斯設(shè)計結(jié)合起來,Optoquick可提供高于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的擴展測量功能。通過此獨特的技術(shù)集成,Optoquick可快速測量規(guī)定半徑處的軸向單跳動和全跳動。無損探測以渦流為基礎(chǔ),渦流是由時變磁場在導(dǎo)電材料內(nèi)引起的小電流回路。

膜電極泄漏檢測,檢測設(shè)備

Optoquick是世界上同類產(chǎn)品中一直面對挑戰(zhàn)并結(jié)合了接觸測量傳感器和自動觸針更換系統(tǒng)的解決方案。在相同的測量周期內(nèi),接觸式感應(yīng)針可自動換型,以便使用合適的針型進行任何特定的測量。通過這樣的解決方案,Optoquick被定位為一個集多種功能于一體的柔性解決方案,因為它可以提供高級的測量功能,并使傳統(tǒng)測量產(chǎn)品無法解決的測量成為可能。全新的Optoquick是傳動軸測量的完美解決方案,其中花鍵、齒輪,如OBR,ODB,節(jié)距跳動都可被測量。Hetech Marposs系統(tǒng)都具備很多優(yōu)勢,首先是有兩個泵送系統(tǒng),一個真空泵送系統(tǒng)和一個分析泵送系統(tǒng)。在機測頭

E.D.C.自1998年以來開發(fā)的用于局部放電絕緣測試的方法基于電容耦合技術(shù)。膜電極泄漏檢測

Optoquick幫助操作人員直接在生產(chǎn)機床旁,進行快速與準(zhǔn)確的質(zhì)量檢查。通過減少工件物流等待的時間,而優(yōu)化了工藝流程。Optoquick系統(tǒng)采用非接觸式光學(xué)掃描系統(tǒng),實現(xiàn)快速與準(zhǔn)確的測量。測量可在靜態(tài)測量模式或工件旋轉(zhuǎn)的動態(tài)模式中完成。工業(yè)級光學(xué)傳感器與馬波斯數(shù)字信號處理技術(shù),讓測量變得準(zhǔn)確與可靠。例如:偏心件、曲軸連桿或其它復(fù)雜特征也能可靠測量。對于在高速轉(zhuǎn)動下測量凸輪輪廓這一復(fù)雜任務(wù)而言,馬波斯凸輪隨動測量是一個創(chuàng)新型解決方案。它能夠測量所有類型的凸輪輪廓,包括凹面部分的輪廓。膜電極泄漏檢測