深圳市力恩科技有限公司2025-04-06
隨著電子產(chǎn)品向小型化、高速化發(fā)展,LPDDR4X 內(nèi)存工作頻率不斷提高,信號(hào)傳輸面臨更多挑戰(zhàn)。若信號(hào)完整性不佳,會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)誤、系統(tǒng)性能下降甚至死機(jī)。通過(guò)測(cè)試可提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在問(wèn)題,保證產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。
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為什么測(cè)試環(huán)境對(duì)SATA信號(hào)完整性測(cè)試很重要?需要控制哪些環(huán)
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