v|tome|x L 240 —— 應(yīng)用: 三維計(jì)算機(jī)斷層掃描 工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct ...
v|tome|x L 450 —— 多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng),用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無損X射線檢...
Seifert x|blade: 是一種易于使用的無損 (NDT) X 射線檢測(cè)系統(tǒng),適用于鑄件,具有獨(dú)特的超高成像質(zhì)量和...
v|tome|x L 450 —— 多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng),用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無損X射線檢測(cè)...