中山RFID射頻信號(hào)測(cè)試

射頻測(cè)試工程師要學(xué)哪些知識(shí)？不管進(jìn)入什么公司，都要先了解你的待測(cè)試對(duì)象是什么，也就是要有一定的產(chǎn)品知識(shí)，才能方便工作，當(dāng)然了，一些基礎(chǔ)的通訊原理知識(shí)是必須的1.相關(guān)射頻的協(xié)議，比如測(cè)試GSMS手機(jī)，那就要閱讀手機(jī)射頻的協(xié)議，對(duì)著協(xié)議測(cè)試其指標(biāo)。把協(xié)議搞懂（一般是全英文）2.產(chǎn)品原理，產(chǎn)品的收發(fā)電路和原理再搞清楚，3.通信知識(shí)是基本的。4、EMC方面的書(shū)籍、半導(dǎo)體物理方面的書(shū)籍.、無(wú)線系統(tǒng)方面的書(shū)。都需要我們?nèi)ミM(jìn)行了解。射頻測(cè)試座的話，需要定期保養(yǎng)，比較好是每使用5000次用顯微鏡檢查下接觸探針或者RF射頻連接器的情況。中山RFID射頻信號(hào)測(cè)試

在產(chǎn)品嚴(yán)重同質(zhì)化的現(xiàn)在，研發(fā)和生產(chǎn)階段的精確射頻測(cè)試是保障品質(zhì)的重要手段。除了從設(shè)計(jì)上尋求突破，產(chǎn)品品質(zhì)也是各大廠商的另一個(gè)關(guān)注重點(diǎn)，具體到射頻硬件部分，研發(fā)和生產(chǎn)階段的精確射頻測(cè)試是保障品質(zhì)的重要手段。 發(fā)射功率是手機(jī)發(fā)射機(jī)測(cè)試的重要指標(biāo)之一，存在兩面性，一方面手機(jī)需要發(fā)射足夠高的功率以保證通信質(zhì)量，另一方面在保證通信質(zhì)量的前提下，發(fā)射功率越低越好，換言之，手機(jī)的發(fā)射功率需要根據(jù)實(shí)際情況被精確控制。接收靈敏度是接收機(jī)測(cè)試重要指標(biāo)之一，也是衡量接收機(jī)接收能力的重要體現(xiàn)，必須精確測(cè)試?；葜軷F射頻芯片測(cè)試射頻測(cè)試探針常見(jiàn)的用途之一是對(duì)處于高頻工作狀態(tài)的元件和設(shè)備進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試。

射頻測(cè)試適用于哪些產(chǎn)品呢？有以下幾種類型的產(chǎn)品，可以用射頻測(cè)試來(lái)測(cè)試產(chǎn)品的1.短距離無(wú)線遙控產(chǎn)品（SRD）例如：遙控玩具、溫濕度傳輸器、無(wú)線鼠標(biāo)、無(wú)線鍵盤、遙控開(kāi)關(guān)、藍(lán)牙產(chǎn)品、智能穿戴設(shè)備、WiFi產(chǎn)品、無(wú)線遙控器、ZigBee，LoRa等.2.專業(yè)無(wú)線電遙控產(chǎn)品（PMR），例如：專業(yè)無(wú)線對(duì)講機(jī)、無(wú)線麥克風(fēng)、無(wú)線電話CTO、CT1、CT1+...ISDN（數(shù)字電話產(chǎn)品）、DECT（增強(qiáng)型數(shù)字無(wú)繩電話）、GSM、CDMA....等2.2G/3G/4G通信產(chǎn)品4.基站、直放站。

射頻測(cè)試有哪些應(yīng)用呢？如BLE作為手機(jī)的標(biāo)配，也進(jìn)而帶動(dòng)了周邊設(shè)備的發(fā)展，像TWS耳機(jī)、智能手環(huán)、藍(lán)牙鼠標(biāo)等廣泛應(yīng)用在各個(gè)行業(yè)。不同廠家設(shè)計(jì)的BLE產(chǎn)品能否兼容，其中非常重要的一個(gè)點(diǎn)就是互操作性。兩個(gè)BLE設(shè)備間能夠可靠穩(wěn)定工作，一方面取決于應(yīng)用層協(xié)議規(guī)范的兼容，還有一個(gè)特別重要的影響因素就是射頻性能，包括發(fā)射功率、帶內(nèi)功率、調(diào)制一致性、載波頻率偏移和漂移、帶內(nèi)雜散、發(fā)送頻譜密度以及相位噪聲等，其對(duì)用戶的直觀影響就是通訊距離短和是否掉線，進(jìn)而影響用戶體驗(yàn)。因此在研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中需要對(duì)在研產(chǎn)品的射頻性能進(jìn)行測(cè)試，以保證其無(wú)線指標(biāo)符合藍(lán)牙射頻規(guī)范的要求。藍(lán)牙射頻測(cè)試規(guī)范：調(diào)制方式、接收靈敏度、數(shù)據(jù)丟包率、天線方向性、通信距離、頻率偏移。

射頻測(cè)試也會(huì)對(duì)成本比較敏感。如今的無(wú)線設(shè)備變得越來(lái)越復(fù)雜，競(jìng)爭(zhēng)壓力日趨增大，利潤(rùn)率被壓的很低。同時(shí)，測(cè)試越來(lái)越難，單位成本面臨增大的壓力。面對(duì)縮小的利潤(rùn)，制造商想盡一切辦法來(lái)降低成本，這就包括降低測(cè)試儀器以及測(cè)試的成本。這不僅體現(xiàn)在生產(chǎn)過(guò)程中，同樣體現(xiàn)在研發(fā)過(guò)程中，在這兩種環(huán)境下，對(duì)于更多功能、更高吞吐量和更簡(jiǎn)單操作的測(cè)試設(shè)備需求越來(lái)越強(qiáng)烈。對(duì)于多空間流的WLAN、LTE和WiMAX系統(tǒng)的測(cè)試，首要目標(biāo)就是在不性能的前提下保持每信道流測(cè)試成本的降低。然而，測(cè)試儀器的成本，特別是在WiMAX系統(tǒng)中，往往會(huì)成倍的增加。比如，為了得到N輸入和M輸出，每個(gè)輸入-輸出需要一個(gè)的發(fā)射機(jī)和一個(gè)接收機(jī)，或者說(shuō)一個(gè)信號(hào)發(fā)生器和一個(gè)信號(hào)分析儀。更加先進(jìn)的測(cè)試儀器的設(shè)計(jì)考慮了以上所談到的這些因素。無(wú)線產(chǎn)品測(cè)試的領(lǐng)域有電磁兼容EMC測(cè)試、RF射頻測(cè)試等等，其中RF射頻測(cè)試是其中一個(gè)重要的測(cè)試領(lǐng)域?；葜軷F射頻芯片測(cè)試

射頻測(cè)試的脈沖測(cè)試中，需要知道脈沖信號(hào)是雷達(dá)系統(tǒng)基礎(chǔ)、常見(jiàn)的信號(hào)形式。中山RFID射頻信號(hào)測(cè)試

射頻測(cè)試中射頻探針的基本要求和工作原理：1）探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來(lái)實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。2）為了能同時(shí)接觸到DUT的信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過(guò)程被稱為“探針的平面化”。3）探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專門校準(zhǔn)方法的開(kāi)發(fā)。4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來(lái)自探針線和到同軸連接器的過(guò)渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過(guò)由射頻電纜和連接器的誤差相類似的方式而抵消的。5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來(lái)很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。中山RFID射頻信號(hào)測(cè)試