南京射頻測(cè)試儀

“空口測(cè)試”是由CTIA早制定的射頻測(cè)試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，那我們?yōu)槭裁匆鯫TA測(cè)試？首先是產(chǎn)品的認(rèn)證要求。包括國(guó)內(nèi)的電信入網(wǎng)測(cè)試要求，海外運(yùn)營(yíng)商GCF/PTCRB測(cè)試要求，北美CTIA測(cè)試要求等。其次產(chǎn)品研發(fā)需求。具有通信功能的產(chǎn)品通過(guò)OTA測(cè)試可以直接摸清產(chǎn)品射頻性能，基于此進(jìn)行評(píng)估或優(yōu)化；再者大型的電商平臺(tái)、物聯(lián)網(wǎng)平臺(tái)對(duì)OTA的測(cè)試要求。天貓、京東等電商平臺(tái)，“米家”、“HiLink”等物聯(lián)網(wǎng)平臺(tái)都有對(duì)OTA測(cè)試要求?，F(xiàn)在的射頻測(cè)試越來(lái)越重要。射頻中的射頻盒+機(jī)柜組合模式，符合工廠端人工取放作業(yè)合理高度設(shè)計(jì)。南京射頻測(cè)試儀

射頻測(cè)試中射頻探針的基本要求和工作原理：1）探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來(lái)實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。2）為了能同時(shí)接觸到DUT的信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過(guò)程被稱為“探針的平面化”。3）探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專門(mén)校準(zhǔn)方法的開(kāi)發(fā)。4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來(lái)自探針線和到同軸連接器的過(guò)渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過(guò)由射頻電纜和連接器的誤差相類似的方式而抵消的。5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來(lái)很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。贛州智能音箱射頻測(cè)試新的RF芯片廣泛應(yīng)用于手機(jī)，平板等移動(dòng)設(shè)備，通訊基站等通訊平臺(tái)。RF射頻測(cè)試座的需求越來(lái)越多。

早起在射頻探針出現(xiàn)之前，由于沒(méi)有一種能夠在無(wú)需安裝或貼合狀態(tài)下對(duì)單片微波集成電路(MMIC)裝置進(jìn)行測(cè)試的簡(jiǎn)便方法，因此測(cè)試過(guò)程常常使得電路完整性遭到破壞，引發(fā)各種問(wèn)題。早期的射頻探針使用的是共面陶瓷材料，而陶瓷不能太彎曲，因而壓觸的彈性范圍并不大，同時(shí)支持的射頻頻率也較低，首先出現(xiàn)的探針只覆蓋到18GHz。在差不多三十年的時(shí)間里，射頻探針技術(shù)便取得了長(zhǎng)足的進(jìn)步，從低頻測(cè)量到適用多種應(yīng)用場(chǎng)合的商用方案：如在110GHz高頻和高溫環(huán)境進(jìn)行阻抗匹配，多端口，差分和混合信號(hào)的測(cè)量裝置，連續(xù)波模式中直到60W的高功率測(cè)量，以及直到1.1THz的太赫茲應(yīng)用，都能見(jiàn)到射頻探針的身影。

手機(jī)消費(fèi)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)日趨激烈，射頻測(cè)試越來(lái)越嚴(yán)格，在產(chǎn)品嚴(yán)重同質(zhì)化的現(xiàn)在，除了從設(shè)計(jì)上尋求突破，產(chǎn)品品質(zhì)也是各大廠商的另一個(gè)關(guān)注重點(diǎn)，具體到射頻硬件部分，研發(fā)和生產(chǎn)階段的精確射頻測(cè)試是保障品質(zhì)的重要手段。發(fā)射功率是手機(jī)發(fā)射機(jī)測(cè)試的重要指標(biāo)之一，存在兩面性，一方面手機(jī)需要發(fā)射足夠高的功率以保證通信質(zhì)量，另一方面在保證通信質(zhì)量的前提下，發(fā)射功率越低越好，換言之，手機(jī)的發(fā)射功率需要根據(jù)實(shí)際情況被精確控制。接收靈敏度是接收機(jī)測(cè)試重要指標(biāo)之一，也是衡量接收機(jī)接收能力的重要體現(xiàn)，必須精確測(cè)試。典型的手機(jī)射頻測(cè)試系統(tǒng)由綜測(cè)儀、測(cè)試夾具、待測(cè)手機(jī)（DUT）組成。測(cè)試夾具把綜測(cè)儀和DUT連接起來(lái)，具有一定的插損，這個(gè)插損基本恒定不變。綜測(cè)儀的發(fā)射功率和接收機(jī)測(cè)量都具有不確定度，儀器廠家給出的技術(shù)指標(biāo)一般在0.5dB~1dB之間，重復(fù)性小于0.1dB，它們是一個(gè)統(tǒng)計(jì)特性，基于多臺(tái)儀器、各種不同的工作條件下和測(cè)試場(chǎng)景下得出的。那么對(duì)特定某一臺(tái)儀器，測(cè)試手機(jī)性能的不確定度是基本恒定的。夾具的插損和測(cè)試儀器的不確定度稱為路徑的系統(tǒng)損耗，可以通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)消除。在手機(jī)終端中，重要的關(guān)鍵就是射頻芯片和基帶芯片。

射頻測(cè)試中的探針是一種測(cè)量裝置，用于電子測(cè)試設(shè)備，對(duì)硅片、管芯及開(kāi)放式微芯片中的電子電路射頻（RF）信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。此外，射頻探針還用于連接器組件中窄間距或高密度射頻互連應(yīng)用。對(duì)處于高頻工作狀態(tài)的元件和設(shè)備進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試一般會(huì)采用射頻測(cè)試探針。在某些情況下，一些射頻測(cè)試探針適用于測(cè)試比較高工作頻率達(dá)到數(shù)百GHz的毫米波電路。還有幾種類型的射頻測(cè)試探針，可以通過(guò)焊接或以機(jī)械的方式連接到測(cè)試表面（通常是PCB的表面）。但它們只在這種高質(zhì)量和高成本的互連是必要的情況下使用，因?yàn)樗鼈兺ǔo(wú)法在不互連質(zhì)量的情況下撤回。對(duì)特定某一臺(tái)儀器，射頻夾具的插損和測(cè)試儀器的不確定度稱為路徑的系統(tǒng)損耗，可以通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)消除。東莞藍(lán)牙射頻測(cè)試廠家

射頻測(cè)試儀市場(chǎng)格局高度集中，大多數(shù)的測(cè)試產(chǎn)品和技術(shù)掌握在國(guó)外廠商中，國(guó)產(chǎn)廠商仍處于相對(duì)落后的局面。南京射頻測(cè)試儀

從架構(gòu)上來(lái)看，一套完整的射頻系統(tǒng)包括射頻收發(fā)器、射頻前端、天線三個(gè)部分。射頻前端又包括功率放大器、包絡(luò)追蹤器、低噪聲放大器、濾波器、天線開(kāi)關(guān)、天線調(diào)諧器等多個(gè)組件。射頻前端各個(gè)組件的作用并不復(fù)雜。例如，放大器，就是把信號(hào)放大，讓信號(hào)傳得更遠(yuǎn)；濾波器，是把雜波去掉，讓信號(hào)更 “純凈”；天線開(kāi)關(guān)，用于控制天線的啟用與關(guān)閉；天線調(diào)諧器，主要作用是“擺弄”天線，獲得比較好的收發(fā)效果…數(shù)量眾多的射頻組件，相互配合，分工協(xié)作，就是為了完成“臨門(mén)一腳”，把基帶打包好的數(shù)據(jù)發(fā)射出去。南京射頻測(cè)試儀