華中工業(yè)CT

phoenix v|tome|x c

—— GE phoenix

v|tome|x c是一款緊湊型450 kV

CT系統(tǒng)

      專為無損檢測和質(zhì)量檢測實驗室使用而設(shè)計，應(yīng)用于鑄造與航空航天等領(lǐng)域。具有維護(hù)率低和以生產(chǎn)為導(dǎo)向的設(shè)計特點，如簡便的裝載工具、掃描條碼等，以及新的一鍵式按鈕進(jìn)行自動CT功能，使系統(tǒng)成為質(zhì)量檢測的一個非常高速有效的工具。 該系統(tǒng)提供檢測的樣品尺寸可以達(dá)到500×1000毫米，對于需要大功率穿透的高密度樣品可以配備450kV射線管，可配有高性能線陣列探測器，以減少扇束CT的散射輻射而造成的圖像偽影。而且，為滿足大批量檢測可配數(shù)字平板探測器與錐束CT相適應(yīng)，或是配雙組合探測器組合使用。 通過CT掃描后，能夠?qū)⒒瘍?nèi)部古生物的形貌提取出來進(jìn)行三維重構(gòu)。華中工業(yè)CT

v|tome|x L 300

——應(yīng)用：

三維計算機(jī)斷層掃描

工業(yè)X射線三維計算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。

然而， phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用，如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。

材料科學(xué)

高分辨率計算機(jī)斷層掃描(micro

ct 與 nano ct)用于檢測材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷，但也用來對地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。

材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件,要滿足***高質(zhì)量和安全性的要求。

CT可進(jìn)行故障分析以及***的三維測量（如壁厚）。 廣東測量版工業(yè)CTCT技術(shù)之 – 數(shù)模比對。

Seifert x|blade：

應(yīng)用領(lǐng)域：

自動化航空鑄件檢測

Seifert x|blade

- 無損檢測 (NDT) 解決方案之一，適用于航空零件，可檢測長達(dá) 400 mm ，重 8kg 的鑄造渦輪葉片。x|blade 功能滿足 MAI（金屬的經(jīng)濟(jì)可承受性計劃） 和 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)。數(shù)字化的***成像技術(shù)具有膠片式的***成像技術(shù)的所有優(yōu)點，同時避免前者的缺點。它增強(qiáng)了***成像技術(shù)，可實現(xiàn)數(shù)字化技術(shù)數(shù)據(jù)處理、分析和存儲。飛機(jī)的渦輪葉片可使用 Seifert x|blade 系統(tǒng)進(jìn)行檢測。

航空發(fā)動機(jī)性能的要求越來越嚴(yán)格。高性能發(fā)動機(jī)采用***的多壁鑄造工藝進(jìn)行冷卻的設(shè)計。這對檢測任務(wù)是一個挑戰(zhàn)，由于現(xiàn)有測量技術(shù)無法確定這些新式多壁鑄件的可接受性。在渦輪發(fā)動機(jī)部件設(shè)計的研究進(jìn)展，包括多壁葉片，CT技術(shù)的應(yīng)用是明顯的需求。

Blade?line

X射線CT系統(tǒng)的主要功能是創(chuàng)建內(nèi)部鑄造件的CT切片圖像，為評估提供更多詳細(xì)的數(shù)據(jù)（壁厚測量和缺陷分析）

phoenix v|tome|x m

——功能和優(yōu)點

主要功能

***緊湊型300kV微焦點CT系統(tǒng)，可進(jìn)行<1米的詳細(xì)探測

300kV時的行業(yè)***的吸收樣品放大倍率

高功率CT和高分辨率nanoCT®的獨特的***配置

***佳易用性源于帶自動的點擊和測量|CT選項的***的phoenix

    datos|x CT軟件

優(yōu)化的CT采集條件、帶溫度穩(wěn)定的X射線管的的三維計量包、數(shù)字探測器陣列柜，以及高精度的直接測量系統(tǒng)

顧客利益

高精度3D測量和以***少的操作員培訓(xùn)執(zhí)行的非***壞性測試任務(wù)

具有高功率X射線管，***、快速探測技術(shù)和***自動化，使產(chǎn)量增加

具有獨特的GE

    DXR探測器陣列（高達(dá)30幀）的極快速CT數(shù)據(jù)采集功能，圖像非常清晰。

所有主要硬件和系統(tǒng)的CT軟件組件GE技術(shù)專有，優(yōu)化后互相兼容

v|tome|x L 240

—— 高分辨率微焦點計算機(jī)斷層掃描(micro ct)系統(tǒng)，用于如大型鑄件，焊接接縫，電子設(shè)備和更多的三維計算機(jī)斷層掃描和二維無損X射線檢測。

特色：

主要功能：

240 千伏 / 320 瓦 開放微焦點X射線管

可選的2 種X射線源（240千伏微米焦點管和180千伏高功率納米焦點管）

高達(dá)10倍的增加的燈絲壽命，通過長壽命的|燈絲（可選）確保了長期穩(wěn)定性和***佳系統(tǒng)效率

通過菱形|窗口（可選）以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集

通過高動態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測器獲取的30 FPS（幀每秒）（可選）的快速CT采集和清晰的影像 注塑件整體掃描，及時成像二維圖達(dá)到微米的細(xì)節(jié)分辨率，顯示穿透效果良好。西北工業(yè)級工業(yè)CT機(jī)器

CT技術(shù)之 - 三維表面提取。華中工業(yè)CT

Seifert x|blade：

是一種易于使用的無損 (NDT) X 射線檢測系統(tǒng)，適用于鑄件，具有獨特的超高成像質(zhì)量和大體積通過能力。它將對待測部件的機(jī)器人***、成像鏈（可對成像鏈進(jìn)行定制以滿足特定需求）與符合 DICONDE要求的影像審查、共享和存檔系統(tǒng)融于一體，從而提供快速、靈活的檢測及快速審查。Seifert x|blade 系統(tǒng)是 GE 旗下檢測科技業(yè)務(wù)部門的產(chǎn)品之一，用于幫助客戶從膠片式的***成像技術(shù)過渡到數(shù)字化的***成像技術(shù)。

主要特性和優(yōu)點：

可定制的成像鏈，使用基本空間分辨率和焦點尺寸組合進(jìn)行了優(yōu)化，以滿足影像質(zhì)量要求或***大程度地減少***次數(shù)

配有機(jī)器人***的自動化檢測計劃，無需人機(jī)交互即可實現(xiàn)多次觀測

E持久閃爍器技術(shù)，可消除探測器的拖影和滯后

成套系統(tǒng)的占地空間小，且***大程度地利用了已發(fā)布的平臺的組件和概念

符合 DICONDE 要求的解決方案，配有用于數(shù)據(jù)存儲和保留的數(shù)種選件，利用查詢功能可查詢所有帶 DICONDE 標(biāo)記的字段 華中工業(yè)CT

英華檢測（上海）有限公司致力于儀器儀表，以科技創(chuàng)新實現(xiàn)***管理的追求。公司自創(chuàng)立以來，投身于工業(yè)CT，工業(yè)CT檢測服務(wù)，是儀器儀表的主力軍。英華檢測致力于把技術(shù)上的創(chuàng)新展現(xiàn)成對用戶產(chǎn)品上的貼心，為用戶帶來良好體驗。英華檢測始終關(guān)注儀器儀表行業(yè)。滿足市場需求，提高產(chǎn)品價值，是我們前行的力量。