ICT測試儀器廠家報(bào)價(jià)

ICT測試儀的測試針保養(yǎng)：對測試針采用防塵套許多冶具廠提供防塵套以用來預(yù)防空污物掉落在測試針頭與針管上。特別是空置或未使用的冶具。在真空的冶具里，灰塵會沉落在測試板的周圍而當(dāng)使用真空儀時會直接吸入不求上進(jìn)測試針中。污漬清潔：不建議用溶劑清潔測試針或使用溶劑浸泡來進(jìn)行污漬清潔。因?yàn)槿軇┛赡軙慈ゼ皵y帶微粒進(jìn)入測試針管和侵害測試針內(nèi)壁的接觸面，不將會引起阻抗的過速上升。保持測試針在清潔的狀態(tài)下是有效的方法來大地減低失敗率。ICT測試治具與FCT測試治具都是電子產(chǎn)品制造設(shè)備都使用在產(chǎn)品生產(chǎn)線上。ICT測試儀器廠家報(bào)價(jià)

ICT測試治具的作用很多使用范圍也很普遍，它早在在工業(yè)時代前就已被普遍使用。ICT測試治具對產(chǎn)品的檢測有什么作用呢?作用一是品質(zhì)的保障：因ICT是全檢的機(jī)器，所有元件都受到嚴(yán)格控制，很大提升品質(zhì)。作用二是降低生產(chǎn)成本：減少維修人員與目視人員的數(shù)量，降低技術(shù)要求，材料與資源的節(jié)省，很大降低生產(chǎn)成本。作用三是提高企業(yè)形象：產(chǎn)品品質(zhì)的提升，提高企業(yè)形象，業(yè)績量大增。作用四是效率的提升：ICT它能夠在短短幾秒內(nèi)測出整塊電路板的好壞，并告知您它壞在哪個區(qū)域及哪個零件，快速解決生產(chǎn)制成問題，并促使產(chǎn)品產(chǎn)量提升。北京在線測試治具ICT主要是指信息和通信技術(shù)，是電信服務(wù)、信息服務(wù)、IT服務(wù)及應(yīng)用的有機(jī)結(jié)合。

ICT技術(shù)：增加ICT測試點(diǎn)，并定義測試點(diǎn)載荷（力或者位移）。簡單的測試點(diǎn)可以根據(jù)坐標(biāo)系手動一個一個加入，如果測試點(diǎn)非常多，可以通過文件導(dǎo)入的形式輸入。求解并查看結(jié)果，評估由于過應(yīng)力導(dǎo)致的風(fēng)險(xiǎn)組件。在分析結(jié)果基礎(chǔ)上，提出改進(jìn)措施。例如，通過改變測試點(diǎn)位置，減少測試點(diǎn)載荷/位移，增加或移動板支撐，填充灌封膠等方法在Sherlock軟件里對電路板設(shè)計(jì)進(jìn)行快速迭代設(shè)計(jì)，以期達(dá)到產(chǎn)品測試合格的目標(biāo)。軟件分別通過移動高風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域的組件U27到合適的位置（10年內(nèi)失效率大于20%）、增加約束條件（10年內(nèi)失效率約為5%，達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)）、填充灌封膠（失效率非常低，達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)）的方法來降低產(chǎn)品的失效率。

ICT測試原理：1）電阻測試：電阻是測試其阻值。其工作原理很簡單，就是在電阻的測試針上加一個電流，然后測試這個電阻兩端的電壓，利用歐姆定律：R=U/I算出該電阻的阻值。2)電容測試：測試電容是測量其容量。小電容的測試方法與電阻類似，不過是用交流信號，利用XC=U/I同時，XC=1/(ωC)而得C=I/(Uω)=I/(2πfU)F是測試頻率，U、I是測試信號的電壓和電流有效值。大容量的電容測試用DC方法，即用直流電壓加在電容兩端，充電流隨時間或指數(shù)減少的規(guī)律，在測試時加一定的延時時間就可測出其容量。ICT測試點(diǎn)的要求有測試點(diǎn)不能被遮擋、覆蓋，焊盤中心距離器件外框至少120mil。

ICT測試治具是ICT測試儀的一種針床，在線測試通常是生產(chǎn)中首先道測試工序，能及時反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。ICT測試治具測試過的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測試手段之一。ICT測試治具的制做原理就是，根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳，測試點(diǎn)的位置打孔，然后插針，把電路板中的網(wǎng)絡(luò)（NET）就是PCB走線，全部引出來，達(dá)到外部來用儀器測試其內(nèi)部是電路結(jié)構(gòu)是否正確的目的。鉆孔ICT測試治具：是一種可借由移動模具以導(dǎo)引麻花鉆孔設(shè)備或其他鉆孔裝置到每個洞的準(zhǔn)確中心位置。蘇州ICT測試儀器供應(yīng)商

ict設(shè)備的功能有能夠前期找出制程不良所在。ICT測試儀器廠家報(bào)價(jià)

導(dǎo)致ICT測試冶具測試不良的原因:開路不良（常由探針接觸不良所致）開路不良只針對某一短路群而言，例如：短路群：<1，4，10，12>，ICT測試冶具測試出1，10開路不良，表示PCB上測試點(diǎn)1與測試點(diǎn)10之間電阻大于55Ω（或55-85Ω），可以用萬用表在PCB上的測試點(diǎn)上進(jìn)行驗(yàn)證；可能原因：1）測試針壞掉，或針型與待測板上的測試點(diǎn)不適合；2）測試點(diǎn)上有松香等絕緣物品；3）某一元器件漏裝、焊接不良、錯件等；4）繼電器、開關(guān)或變阻器的位置有變化；5）PCB上銅箔斷裂，或ViaHole與銅箔之間Open。ICT測試儀器廠家報(bào)價(jià)

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