絕緣電阻導(dǎo)電陽(yáng)極絲的測(cè)試成本主要包括以下幾個(gè)方面:設(shè)備購(gòu)置成本:進(jìn)行CAF測(cè)試需要定制的測(cè)試設(shè)備,如多通道絕緣電阻導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng),這些設(shè)備的購(gòu)置成本相對(duì)較高,但考慮到其對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量的保障作用,一次性投入的回報(bào)遠(yuǎn)超過(guò)設(shè)備成本。運(yùn)行維護(hù)成本:測(cè)試設(shè)備在長(zhǎng)期使用過(guò)程中需要定期維護(hù)、校準(zhǔn)和更新,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。這些運(yùn)行維護(hù)成本包括設(shè)備維護(hù)費(fèi)用、校準(zhǔn)費(fèi)用以及可能的設(shè)備升級(jí)費(fèi)用。人力成本:進(jìn)行CAF測(cè)試需要專業(yè)的技術(shù)人員進(jìn)行操作和數(shù)據(jù)分析。這些人員的工資、培訓(xùn)費(fèi)用以及管理成本都是測(cè)試過(guò)程中需要考慮的人力成本。測(cè)試樣品成本:CAF測(cè)試需要使用實(shí)際的PCB樣品進(jìn)行測(cè)試,這些樣品的成本根據(jù)生產(chǎn)批次和測(cè)試需求而定。如果測(cè)試導(dǎo)致樣品損壞,還需要考慮樣品報(bào)廢的成本。測(cè)試環(huán)境成本:為了模擬并加快導(dǎo)電陽(yáng)極絲發(fā)生的真實(shí)環(huán)境,可能需要建設(shè)或租賃特定的測(cè)試環(huán)境,如高溫高濕環(huán)境。這些環(huán)境的建設(shè)和維護(hù)也需要一定的成本投入。其他成本:此外,還可能包括測(cè)試過(guò)程中使用的輔助材料、試劑、電力消耗等成本,以及可能的測(cè)試失敗導(dǎo)致的重復(fù)測(cè)試成本。精密的高阻測(cè)試系統(tǒng)是企業(yè)研發(fā)與生產(chǎn)中不可或缺的工具。杭州高阻測(cè)試設(shè)備
定制化CAF(導(dǎo)電陽(yáng)極絲)測(cè)試解決方案主要圍繞滿足特定客戶需求而設(shè)計(jì),旨在提高測(cè)試效率、準(zhǔn)確性和可靠性,為產(chǎn)品優(yōu)化和改進(jìn)提供數(shù)據(jù)分析支持。通過(guò)選擇專業(yè)的供應(yīng)商和定制化的解決方案,客戶能夠更好地滿足自己的測(cè)試需求,提高產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力和可靠性。杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司是一家專門從事檢測(cè)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售與服務(wù)的公司。該公司提供的定制化CAF測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)可配置16個(gè)高性能測(cè)試板卡,支持測(cè)量單獨(dú)的測(cè)量點(diǎn)和高達(dá)1014Ω的精細(xì)電阻測(cè)量。軟硬件高度集成,頻繁的監(jiān)測(cè)功能提供了電化學(xué)反應(yīng)在電路組件上發(fā)生情況的全部畫面。測(cè)量結(jié)果分析功能強(qiáng)大,性能穩(wěn)定,操作方便,極大地滿足客戶需求。杭州國(guó)磊SIR測(cè)試系統(tǒng)市價(jià)多通道導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)支持遠(yuǎn)程監(jiān)控和操作,提高了測(cè)試工作的便捷性。
導(dǎo)電陽(yáng)極絲是PCB電路板的一種潛在故障形式,其形成和發(fā)展受到多種環(huán)境因素的明顯影響。以下是對(duì)CAF環(huán)境影響因素的詳細(xì)描述:首先,溫度和濕度是CAF形成的重要環(huán)境因素。在高溫高濕的環(huán)境下,PCB板上的環(huán)氧樹脂與玻纖之間的附著力會(huì)出現(xiàn)劣化,導(dǎo)致玻纖表面的硅烷偶聯(lián)劑發(fā)生化學(xué)水解,從而在環(huán)氧樹脂與玻纖的界面上形成CAF泄露的通路。這種環(huán)境不僅促進(jìn)了水分的吸附和擴(kuò)散,還為離子的遷移提供了有利的條件。其次,電壓和偏壓也是CAF形成的關(guān)鍵因素。在兩個(gè)絕緣導(dǎo)體間存在電勢(shì)差時(shí),陽(yáng)極上的銅會(huì)被氧化為銅離子,這些離子在電場(chǎng)的作用下向陰極遷移,并在遷移過(guò)程中與板材中的雜質(zhì)離子或OH-結(jié)合,生成不溶于水的導(dǎo)電鹽,逐漸沉積下來(lái),導(dǎo)致兩絕緣導(dǎo)體間的電氣間距急劇下降,甚至直接導(dǎo)通形成短路。此外,PCB板材的材質(zhì)和吸水率也會(huì)對(duì)CAF的形成產(chǎn)生影響。不同的板材材質(zhì)和吸水率會(huì)導(dǎo)致其抵抗CAF的能力有所不同。例如,一些吸水率較高的板材更容易在潮濕環(huán)境中發(fā)生CAF故障。此外,環(huán)境中的污染物和化學(xué)物質(zhì)也可能對(duì)CAF的形成產(chǎn)生影響。例如,電路板上的有機(jī)污染物可能會(huì)在高溫高濕環(huán)境中形成細(xì)小的導(dǎo)電通道,進(jìn)一步促進(jìn)CAF的形成。
傳統(tǒng)的CAF測(cè)試法主要關(guān)注于評(píng)估印制電路板(PCB)在特定條件下(如高溫、高濕和電壓應(yīng)力)的離子遷移性能,以預(yù)測(cè)和評(píng)估可能發(fā)生的CAF現(xiàn)象。以下是該方法的主要步驟和要點(diǎn):1.樣品準(zhǔn)備:選擇具有代表性的PCB樣品,確保樣品符合測(cè)試要求。對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理,如清潔、烘干等,以消除潛在的外部干擾因素。2.實(shí)驗(yàn)裝置搭建:設(shè)置實(shí)驗(yàn)裝置,包括恒溫恒濕箱、電壓源、電阻計(jì)等。確保實(shí)驗(yàn)環(huán)境的清潔和無(wú)污染,避免外部因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。3.實(shí)驗(yàn)條件設(shè)定:根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)或?qū)嶒?yàn)要求,設(shè)定適當(dāng)?shù)臏囟?、濕度和電壓等?shí)驗(yàn)條件。這些條件通常模擬PCB在實(shí)際工作環(huán)境中可能遇到的惡劣情況。4.樣品浸泡:將PCB樣品放置在設(shè)定的實(shí)驗(yàn)條件下進(jìn)行浸泡,時(shí)間可以從幾小時(shí)到幾天不等。在浸泡過(guò)程中,銅離子可能在電場(chǎng)作用下發(fā)生遷移,形成CAF。5.遷移液分析:浸泡結(jié)束后,取出遷移液樣品。使用適當(dāng)?shù)姆治龇椒ǎㄈ缭游展庾V、電感耦合等離子體發(fā)射光譜、離子色譜等)對(duì)遷移液中的離子進(jìn)行定量分析。6.結(jié)果評(píng)估:根據(jù)分析結(jié)果評(píng)估PCB樣品中離子的遷移情況。結(jié)合相應(yīng)的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)或限制要求,判斷樣品是否符合安全性和合規(guī)性要求。SIR 或 CAF 測(cè)試要確保樣品表面潔凈,無(wú)殘留物,并符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求。
CAF現(xiàn)象對(duì)汽車電子系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性構(gòu)成嚴(yán)重威脅,因此防止CAF的發(fā)生至關(guān)重要。下面,我們將詳細(xì)介紹CAF的防止方案。選擇合適的PCB板材選擇合適的PCB板材是防止CAF的第一步。應(yīng)選擇吸濕性低、絕緣性能好的板材,以減少水分對(duì)板材的影響。同時(shí),還應(yīng)注意板材的耐熱性和耐腐蝕性,以確保其在惡劣環(huán)境下仍能保持穩(wěn)定的性能。優(yōu)化設(shè)計(jì)與制造過(guò)程在PCB的設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中,應(yīng)注意避免使用高場(chǎng)強(qiáng)和高電流密度的設(shè)計(jì)。此外,還應(yīng)加強(qiáng)電磁兼容設(shè)計(jì),減少電場(chǎng)干擾,降低CAF的不穩(wěn)定性。在制造過(guò)程中,應(yīng)確保良好的清潔和防塵措施,避免導(dǎo)電性顆粒和污染物質(zhì)進(jìn)入PCB板。把控濕度與溫度濕度和溫度是影響CAF形成的重要因素。因此,在PCB的存儲(chǔ)、運(yùn)輸和使用過(guò)程中,應(yīng)嚴(yán)格把控濕度和溫度。例如,在存儲(chǔ)時(shí)應(yīng)將PCB板放置在干燥、通風(fēng)的環(huán)境中;在運(yùn)輸時(shí)應(yīng)采取防潮措施;在使用時(shí)應(yīng)確保工作環(huán)境的濕度和溫度符合要求。高阻測(cè)試設(shè)備將在航空航天領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。杭州國(guó)磊SIR測(cè)試系統(tǒng)市價(jià)
多通道導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)具備高度智能化,降低人為操作失誤。杭州高阻測(cè)試設(shè)備
CAF(ConductiveAnodicFilament)即導(dǎo)電陽(yáng)極絲,是印制電路板(PCB)電極間在特定條件下出現(xiàn)的一種異常失效現(xiàn)象。它主要源于電路板在潮濕環(huán)境下,金屬離子在電場(chǎng)作用下遷移并沉積,形成導(dǎo)電路徑,從而可能導(dǎo)致電路短路或失效。下面,我們將詳細(xì)探討CAF形成的原理。濕度與水分吸附CAF現(xiàn)象的首要條件是濕度。當(dāng)PCB板暴露在潮濕環(huán)境中時(shí),其表面會(huì)吸附水分。這些水分不僅可能直接存在于板材表面,還可能通過(guò)板材內(nèi)部的孔隙和裂縫滲透到內(nèi)部。水分的存在為后續(xù)的化學(xué)反應(yīng)提供了必要的介質(zhì)。電場(chǎng)作用下的離子遷移在電場(chǎng)的作用下,PCB板上的金屬離子發(fā)生遷移。這主要是由于金屬離子在電場(chǎng)中受到電場(chǎng)力的作用而發(fā)生移動(dòng)。對(duì)于銅基PCB板來(lái)說(shuō),主要是銅離子在陽(yáng)極處失去電子形成銅離子,并在電場(chǎng)的作用下向陰極移動(dòng)。金屬離子的沉積與還原當(dāng)金屬離子遷移到陰極時(shí),它們會(huì)得到電子并還原為金屬原子。這些金屬原子會(huì)在陰極處逐漸沉積,形成微小的金屬顆?;蚪饘俳z。這些金屬絲或顆粒在電場(chǎng)的作用下進(jìn)一步連接和擴(kuò)展,最終可能形成導(dǎo)電通路,即CAF。杭州高阻測(cè)試設(shè)備