作為慣例,在生產(chǎn)中,測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)當(dāng)根據(jù)生產(chǎn)批量的要 求建立并優(yōu)化。實(shí)際運(yùn)作中無(wú)數(shù)次地證明,*這樣做是遠(yuǎn) 遠(yuǎn)不夠的。如果在兩周的生產(chǎn)時(shí)間內(nèi)要測(cè)試一個(gè)新批次的 PCB,有可能會(huì)發(fā)生這樣的情況:ELKO的顏色突然由黑色 變?yōu)榱它S色,或者晶體管的引腳變短了、是彎的;或是電阻的顏色由黃色變成了藍(lán)色的,等等。AOI檢查程序必須而且能夠處理這些不同的變化所帶來(lái) 的問(wèn)題。但是,其中的一些變化需要花費(fèi)時(shí)間進(jìn)行處理, 因?yàn)槲覀儾荒茴A(yù)先知道是否有一種新的元器件被使用,或 是存在一個(gè)錯(cuò)誤的元器件布局。同時(shí),面對(duì)質(zhì)量方面的困 難,大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個(gè)一致的,確實(shí) 可行的說(shuō)明。電子元件檢測(cè)中,系統(tǒng)可識(shí)別0.1mm2的焊錫殘留與引腳氧化缺陷,采用OpenCV庫(kù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)圖像處理。太倉(cāng)一體化自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備規(guī)格尺寸
因此,QFN的 焊盤(pán)設(shè)計(jì)建議為:焊盤(pán)伸出于器件引腳的外端, 而縮進(jìn)于器件的內(nèi) 端,這樣使得在器件引腳的內(nèi)外形成彎月型焊盤(pán)。在這里 很重要的一點(diǎn)是,在進(jìn)行設(shè)計(jì)計(jì)算時(shí)必須考慮器件的公差范圍。(圖9)BGA 設(shè)計(jì)圖10在BGA設(shè)計(jì)時(shí),焊點(diǎn)的形狀(如淚滴型)可以通過(guò)特 別的布局使其成為可見(jiàn)的;就是說(shuō),淚滴型的焊點(diǎn)除了具 有奇怪的形狀外,它的方向也是很隨意的??偠灾?,在 器件面的焊盤(pán)和在PCB上的焊盤(pán)正好和BGA焊球的大小是 一樣的(圖10 )。在德國(guó)Erlangen 大學(xué),學(xué)者做了大量的 研究去評(píng)價(jià)單個(gè)焊盤(pán)形狀的模型;他們發(fā)現(xiàn),無(wú)論焊盤(pán)是 圓形還是非圓形的,焊膏印刷圖形要保持為圓形不變。吳中區(qū)直銷(xiāo)自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備哪里買(mǎi)PCB板的范圍可從細(xì)間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測(cè)方案,以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。
AOI軟件中有一個(gè)綜合性的驗(yàn)證功能,它能減少檢查的誤報(bào),保證檢測(cè)程序無(wú)缺陷。它可以檢查儲(chǔ)存起來(lái)的有缺陷的樣品,例如,修理站存放的樣品,以及印刷了焊膏的空白印刷電路板。在優(yōu)化階段,在這方面花時(shí)間的原因是為了不讓任何缺陷溜過(guò)去。所有已知的缺陷都必須檢查,同時(shí)要把允許出現(xiàn)的誤報(bào)數(shù)量做到**小。在針對(duì)減少誤報(bào)而對(duì)任何程序進(jìn)行調(diào)整時(shí),要檢查一下,看看以前檢查出來(lái)的直正缺陷,是否得到維修站的證實(shí)。通過(guò)綜合的核實(shí),保證檢查程序的質(zhì)量,用于專(zhuān)門(mén)的制造和核查,同時(shí)對(duì)誤報(bào)進(jìn)行追蹤。
● 對(duì)于不同產(chǎn)品的AOI全球檢查庫(kù),有可能在當(dāng)?shù)剡M(jìn)行調(diào)整──這是AOI軟件必備的特性?!?貼片公差——進(jìn)料器常規(guī)的維護(hù)和校準(zhǔn)?!?確定檢查質(zhì)量:IPC標(biāo)準(zhǔn)2級(jí)——必須允許使用朝下的電阻器。組件趐起和共面性的檢測(cè)必須可靠。關(guān)于元件長(zhǎng)度公差,不同的組件供應(yīng)商、電路板和無(wú)鉛焊料的供應(yīng)商都不可能沒(méi)有任何直接的影響。優(yōu)良的AOI程序應(yīng)該能夠應(yīng)付這些這影響。如果這些個(gè)別點(diǎn)的變化可以保持不變,那么就能夠相當(dāng)大地簡(jiǎn)化AOI編程。經(jīng)研究得到的結(jié)論是,由于無(wú)鉛產(chǎn)生的影響,圖形對(duì)照系統(tǒng)無(wú)法得到適合的檢查結(jié)果,這是因?yàn)楹细竦臉悠纷兓蟆F骷絇CB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm(0.12”)的工 藝邊。
超聲波探傷超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)有多種波型,檢驗(yàn)中**常用的為縱波、橫波、表面波和板波。用縱波可探測(cè)金屬鑄錠、坯料、中厚板、大型鍛件和形狀比較簡(jiǎn)單的制件中所存在的夾雜物、裂縫、縮管、白點(diǎn)、分層等缺陷;用橫波可探測(cè)管材中的周向和軸向裂縫、劃傷、焊縫中的氣孔、夾渣、裂縫、未焊透等缺陷;用表面波可探測(cè)形狀簡(jiǎn)單的鑄件上的表面缺陷;用板波可探測(cè)薄板中的缺陷。如圖《DAUTD系統(tǒng)組成結(jié)構(gòu)》給出一個(gè)基于PC-DSP的數(shù)字化超聲波自動(dòng)探傷系統(tǒng)( DAUTD)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。整個(gè)系統(tǒng)由探頭陣列、機(jī)械傳動(dòng)裝置、傳動(dòng)控制卡、4× 4模擬通道處理板、電源控制與同步觸發(fā)板、數(shù)字信號(hào)處理板、工控機(jī)及其外設(shè)組成。缺陷檢測(cè)是通過(guò)機(jī)器視覺(jué)技術(shù)對(duì)物品表面斑點(diǎn)、凹坑、劃痕等缺陷進(jìn)行自動(dòng)化識(shí)別與評(píng)估的質(zhì)量控制技術(shù)。江蘇本地自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備銷(xiāo)售電話
早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報(bào)廢不可修理的電路板。太倉(cāng)一體化自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備規(guī)格尺寸
印刷圖案圖3所有印有圖案的PCB也是能夠被檢查的,例如,當(dāng)元 器件的邊框或元器件本體上的字母單獨(dú)出現(xiàn)在組件的某個(gè) 區(qū)域從而干擾對(duì)其他部分的檢查時(shí),可以手工調(diào)整檢查程 序。盡管如此,在生產(chǎn)允許的范圍內(nèi),圖案的印刷范圍仍 然有一個(gè)較大的選擇,因此,減少非反射性標(biāo)識(shí)印刷(黑 或暗黃)值得加以考慮。另外一個(gè)可能出現(xiàn)的情況是需要 有選擇地印刷標(biāo)識(shí):例如,當(dāng)某些特定的器件(如霍爾傳 感器)正面向下時(shí)就必須印刷成白色;而另一種情況是印 有極性標(biāo)志的有傾斜角的鉭電容器件;這樣能使標(biāo)識(shí)和背 景形成鮮明的對(duì)比,使得檢查的圖像更加清晰。太倉(cāng)一體化自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備規(guī)格尺寸
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