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測試座的溫度變化對測試結果有何影響呢?

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深圳市欣同達科技有限公司2025-04-05

在長時間連續(xù)測試過程,測試座的溫度變化可能會對測試結果產(chǎn)生以下影響: 接觸電阻變化:比較大多數(shù)金屬材料的電阻會隨溫度升高而增比較大。當測試座在連續(xù)測試過程中溫度升高時,其導電部分(如接觸探針、線路等)的電阻也會相應增加,導致接觸電阻增比較大,從而影響信號傳輸?shù)臏蚀_性,使測試得到的電壓、電流等參數(shù)出現(xiàn)偏差。 材料性能變化:測試座所使用的一些材料(如絕緣材料、彈性材料等)在溫度變化時可能會發(fā)生性能改變。例如,絕緣材料可能會因為溫度升高而出現(xiàn)絕緣性能下降的情況,導致漏電現(xiàn)象增加,影響測試的安全性和準確性;彈性材料可能會因為溫度過高而失去彈性,造成接觸不良。 信號傳輸特性改變:溫度變化還可能影響測試座內(nèi)部線路的電容、電感等參數(shù),進而改變信號傳輸?shù)奶匦?,如出現(xiàn)信號延遲、衰減等問題,使測試結果與實際情況不符。

深圳市欣同達科技有限公司
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簡介:研發(fā)、生產(chǎn)和銷售半導體芯片測試插座。提供定制化的測試插座方案
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