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高頻率下使用的IC測(cè)試座需要具備哪些特殊性能？

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深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-04-05

高頻率下使用的測(cè)試座需要具備良好的高頻特性，包括低插入損耗、低反射系數(shù)、高隔離度等。此外，還應(yīng)具有較小的寄生電容和電感，以減少對(duì)高頻信號(hào)的影響。同時(shí)，測(cè)試座的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)也應(yīng)考慮到高頻信號(hào)的傳輸特性，如采用屏蔽結(jié)構(gòu)、優(yōu)化布線等，以提高信號(hào)的完整性和穩(wěn)定性。

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簡(jiǎn)介：研發(fā)、生產(chǎn)和銷售半導(dǎo)體芯片測(cè)試插座。提供定制化的測(cè)試插座方案
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