湖北離子遷移絕緣電阻測(cè)試發(fā)展

使用類似SIR測(cè)試模塊的68針LCC。這種設(shè)計(jì)有足夠的熱量，允許一個(gè)范圍內(nèi)的回流曲線。元件的高度和底部端子**了一個(gè)典型的組裝案例，其中助焊劑殘留物和其他污染物可以被截留在元件底部。在局部萃取過(guò)程中，噴嘴比組件小得多，且能滿足組件與板的高度差。局部萃取法會(huì)把板子表面所有殘留離子都溶解。電路板上離子材料的常見(jiàn)來(lái)源是多種多樣的，包括電路板制造和電鍍殘留物、人機(jī)交互殘留物、助焊劑殘留物等。這包括有意添加的化學(xué)物質(zhì)和無(wú)意的污染?？紤]到這一點(diǎn)，每當(dāng)遇到不可接受的結(jié)果時(shí)，這種方法就被用來(lái)調(diào)查在過(guò)程和材料清單中發(fā)生了什么變化。在流程開(kāi)發(fā)過(guò)程中，應(yīng)該定義一個(gè)“正?！钡慕Y(jié)果范圍，但是當(dāng)結(jié)果超出預(yù)期范圍時(shí)，可能會(huì)有許多潛在的原因。智能電阻具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。湖北離子遷移絕緣電阻測(cè)試發(fā)展

CAF產(chǎn)生的原因：1、原料問(wèn)題1)樹(shù)脂身純度不良，如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳；2)玻纖束之表面有問(wèn)題，如耦合性不佳，親膠性不良；3)樹(shù)脂之硬化劑不良，容易吸水；4)膠片含浸中行進(jìn)速度太快；常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽造成氣泡殘存。CAF形成過(guò)程：1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布，然后涂環(huán)氧樹(shù)脂半固化后制成；2、樹(shù)脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時(shí)親膠性不良，兩者之間容易出現(xiàn)間隙；3、鉆孔等機(jī)械加工過(guò)程中，由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對(duì)樹(shù)脂的粘合力進(jìn)一步破壞；4、距離較近的兩孔若電勢(shì)不同，則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動(dòng)下逐漸向負(fù)極遷移。湖南CAF電阻測(cè)試服務(wù)在電子設(shè)備制造和維修過(guò)程中，電阻測(cè)試是非常重要的一環(huán)。

在精密電子制造業(yè)的舞臺(tái)上，每一塊PCBA（印刷電路板組裝）的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展，PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升，如何有效控制生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生的污染物，確保電路板的長(zhǎng)期可靠性，成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，正是這一挑戰(zhàn)的解決方案?！旧疃榷床?，精確監(jiān)測(cè)】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn)，專為PCBA的可靠性評(píng)估而設(shè)計(jì)，它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控SIR（表面絕緣電阻）和CAF（導(dǎo)電陽(yáng)極絲）的變化，精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。

離子遷移（ECM/SIR/CAF）是電子電路板（PCB）中常見(jiàn)的失效模式，尤其在高電壓、高溫和濕度條件下更為突出。這些現(xiàn)象與電子組件的可靠性和壽命緊密相關(guān)。電解質(zhì)介電擊穿（ECM - Electrochemical Migration）：要因分析：ECM 主要是由于電路板上的電解質(zhì)（如殘留水分、污染物質(zhì)或潮濕環(huán)境中的離子）在電場(chǎng)作用下引發(fā)金屬離子的氧化還原反應(yīng)和遷移，導(dǎo)致短路或漏電流增加。解決方案：設(shè)計(jì)階段：采用***材料，如具有低吸濕性及良好耐離子遷移性的阻焊劑和基材（如FR-4改良型或其他高級(jí)復(fù)合材料）；優(yōu)化布線設(shè)計(jì)，減少高電壓梯度區(qū)域。工藝控制：嚴(yán)格清潔流程以減少污染，采用合適的涂層保護(hù)措施，提高SMT貼片工藝水平以防止錫膏等殘留物成為離子源。環(huán)境條件：產(chǎn)品儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用過(guò)程中需遵循防潮密封標(biāo)準(zhǔn)，確保封裝完整。四線法的基本原理在于通過(guò)將電流引入被測(cè)件的兩個(gè)端點(diǎn)，并通過(guò)另外兩根單獨(dú)的引線在被測(cè)件的兩端測(cè)量電壓。

絕緣不良是電氣設(shè)備失效和安全事故的常見(jiàn)原因。廣州維柯信息技術(shù)有限公司深知這一點(diǎn)，因此研發(fā)出的SIR表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)，專注于捕捉那些可能被忽視的微小缺陷。絕緣材料在長(zhǎng)時(shí)間使用或特定環(huán)境下可能會(huì)老化，導(dǎo)致表面電阻下降，進(jìn)而影響整個(gè)系統(tǒng)的安全性。通過(guò)定期進(jìn)行SIR測(cè)試，可以早期發(fā)現(xiàn)這些問(wèn)題，及時(shí)采取措施，避免重大事故的發(fā)生。廣州維柯的SIR測(cè)試系統(tǒng)，以其高度的自動(dòng)化和智能化，能夠在各種條件下快速、準(zhǔn)確地完成測(cè)試任務(wù)，**提高了檢測(cè)效率和準(zhǔn)確性。對(duì)于制造商而言，這不僅意味著產(chǎn)品可靠性增強(qiáng)，也是對(duì)品牌信譽(yù)的有力背書(shū)。智能電阻通過(guò)內(nèi)置的智能芯片和算法，能夠?qū)崿F(xiàn)更加準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。CAF電阻測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)生離子遷移的原因，是當(dāng)絕緣體兩端的金屬之間有直流電場(chǎng)時(shí)，這兩邊的金屬就成為兩個(gè)電極。湖北離子遷移絕緣電阻測(cè)試發(fā)展

電阻值的測(cè)定時(shí)間可設(shè)定范圍是：CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測(cè)定時(shí)間范圍1-600分鐘可設(shè)置，單次取值電阻測(cè)定電壓穩(wěn)定時(shí)間范圍1-600秒可設(shè)置，完成多次取值電阻測(cè)定時(shí)間1-9999小時(shí)可設(shè)置。電阻測(cè)試范圍1x104-1x1014Ω，電阻測(cè)量精度：1x104-1x1010Ω≤±2%，1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量電流的設(shè)定：使用低阻SIR系統(tǒng)測(cè)樣品導(dǎo)通性時(shí)可以設(shè)置測(cè)量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測(cè)樣品電阻時(shí)測(cè)量電流是不用設(shè)置，需設(shè)置測(cè)量電壓，因?yàn)閮x器恒壓工作測(cè)量漏電流，用歐姆定理計(jì)算電阻值。湖北離子遷移絕緣電阻測(cè)試發(fā)展