探索LIMS在綜合第三方平臺建設(shè)
高校實(shí)驗(yàn)室引入LIMS系統(tǒng)的優(yōu)勢
高校實(shí)驗(yàn)室中LIMS系統(tǒng)的應(yīng)用現(xiàn)狀
LIMS應(yīng)用在生物醫(yī)療領(lǐng)域的重要性
LIMS系統(tǒng)在醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用
LIMS:實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)的模塊組成
如何選擇一款適合的LIMS?簡單幾步助你輕松解決
LIMS:解決實(shí)驗(yàn)室管理的痛點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)室是否需要采用LIMS軟件?
LIMS系統(tǒng)在化工化學(xué)行業(yè)的發(fā)展趨勢
紅外(Infrared,IR)波是指波長在,它在大自然的電磁波譜里處在可見光與微波之間。由于IR在電磁波譜中涵蓋的波長范圍很寬,人們通常按波長將它分成5個(gè)子波段,分別為:近紅外(near-IR,NIR)、中紅外(mid-IR,MIR)、長波紅外(long-wavelengthIR,LWIR)、甚長波紅外(very-long-wavelengthIR,VLWIR)以及遠(yuǎn)紅外(far-IR,FIR),它們所對應(yīng)的波長范圍如下表所示:一、IR紅外探測器分類根據(jù)探測機(jī)理的不同,IR探測器可分為兩大類,分別是光子探測器和熱探測器,下圖所示:在吸收IR波后,熱探測材料的溫度、電阻率、電動勢以及自發(fā)極化強(qiáng)度等會產(chǎn)生明顯的波動,根據(jù)這些波動可探測目標(biāo)物體向外輻射IR的能量。熱探測器的響應(yīng)速度普遍比光子探測器低,因此在大規(guī)模FPA探測器的發(fā)展方面不如光子探測器樂觀,但熱探測器制造成本低廉、使用便利,這使它們在民用市場大受歡迎與光子探測器不同,熱探測器的響應(yīng)光譜較為平坦,不存在峰值波長,其探測率不隨波長變化而變化,如圖所示。 建筑工程師利用紅外熱像儀檢查建筑物的保溫性能,確保能效較大化。新型紅外熱像儀哪家便宜
紅外測溫儀:在對物體進(jìn)行測量時(shí)只能測一個(gè)點(diǎn),可以把它認(rèn)為成只有一個(gè)像素的熱像儀,因此其顯示目標(biāo)上單個(gè)點(diǎn)的溫度測量值。小貼士提醒:在知道準(zhǔn)確的位置要進(jìn)行近距離檢測時(shí),紅外測溫儀經(jīng)濟(jì)實(shí)惠并具有出色的性能。面對以下情況時(shí),建議優(yōu)先考慮紅外熱像儀。NO.2進(jìn)行小目標(biāo)測量紅外測溫儀光斑尺寸的同時(shí)就限制了需在近距離情況下測量小物體溫度的能力。但要測量極小的元件時(shí),則需要搭配特寫光學(xué)元件(微距鏡頭)的紅外熱像儀能聚焦到每像素光斑尺寸小于5μm,這樣更有利于被測物件得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果。鋁材測溫紅外熱像儀哪家便宜紅外線熱成像分為三個(gè)波段:短波、中波、長波、特殊波長。
熱電堆又叫溫差電堆,它利用熱電偶串聯(lián)實(shí)現(xiàn)探測功能,是較為古老的一種IR探測器。以前,熱電堆都是基于金屬材料制備的,具有響應(yīng)速度慢、探測率低、成本高等致命劣勢,不受業(yè)內(nèi)人士的待見。隨著近代半導(dǎo)體技術(shù)的迅猛發(fā)展,半導(dǎo)體材料也被應(yīng)用到了熱電堆的制作中。半導(dǎo)體材料普遍比金屬材料的塞貝克(Seebeck)系數(shù)高,而且半導(dǎo)體的微加工技術(shù)保證了器件的微型化程度,降低其熱容量,因此熱電堆的性能得到了**地優(yōu)化?;パa(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)工藝的引入,讓紅外熱像儀熱電堆芯片電路技術(shù)實(shí)現(xiàn)了批量生產(chǎn)。
對表面散熱的計(jì)算還可以采用公式法,本文中的公式法源于《化工原理》中的傳熱學(xué)部分,對于具體傳熱系數(shù)的計(jì)算方法則來自于拉法基集團(tuán)水泥工藝工程手冊及拉法基集團(tuán)熱工計(jì)算工具中使用的經(jīng)驗(yàn)計(jì)算公式。公式法將表面散熱分為輻射散熱和對流散熱分別進(jìn)行計(jì)算,表面的總熱損失是輻射和對流損失的總和:Q總=Q輻射+Q對流。1)紅外熱像儀輻射散熱而言,附件物體的表面會把所測外殼的熱輻射反射回外殼,從而減少了熱量的傳遞,輻射熱量的減少量取決于所測外殼的大小、形狀、發(fā)射率和溫度。所測殼體的曲面以及殼體大小、形狀和距離將影響可視因子,這里所說的可視因子是指可以被所測外殼“看到”的附件物體表面的比例。即使對于相對簡單的形狀,可視因子的計(jì)算也變得相當(dāng)復(fù)雜,因此必須進(jìn)行假設(shè)以簡化計(jì)算。在電力行業(yè),很早就將紅外熱像儀運(yùn)用于設(shè)備的安全檢。
測量表面溫度一般采用非接觸紅外高溫計(jì),必須注意在測量時(shí)需要調(diào)整紅外熱像儀所使用的發(fā)射率ε,發(fā)射率是材料及其表面狀況的特性,采用不正確的發(fā)射率會產(chǎn)生明顯的測量誤差。有兩種方法可以在靜態(tài)表面上校準(zhǔn)發(fā)射率,***個(gè)方法是使用接觸式高溫計(jì)測量溫度,然后將紅外高溫計(jì)指向同一點(diǎn)并調(diào)整發(fā)射率,直到溫度讀數(shù)與接觸式溫度計(jì)的讀數(shù)相同;第二個(gè)方法是在被測表面粘上黑膠布,或者涂上黑漆,然后用測得的溫度校準(zhǔn)紅外高溫計(jì)。常用特定溫度下水泥窯系統(tǒng)表面發(fā)射率見表1。本文將詳細(xì)介紹如何選購紅外熱像儀。OPTPI400紅外熱像儀用途
電力行業(yè)采用紅外熱像儀對輸電線路和變電站進(jìn)行定期巡檢,預(yù)防電氣故障。新型紅外熱像儀哪家便宜
1、設(shè)備或部件的輸出參數(shù)設(shè)備的輸出與輸入的關(guān)系以及輸出變量之間的關(guān)系都可以反映設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。2、設(shè)備零部件的損傷量變形量、磨損量、裂紋以及腐蝕情況等都是判斷設(shè)備技術(shù)狀態(tài)的特征參量。3、紅外熱像儀運(yùn)轉(zhuǎn)中的二次效應(yīng)參數(shù)主要是設(shè)備在運(yùn)行過程中產(chǎn)生的振動、噪聲、溫度、電量等。設(shè)備或部件的輸出參數(shù)和零部件的損傷量都是故障的直接特征參量。而二次效應(yīng)參數(shù)是間接特征參量。使用間接特征參量進(jìn)行故障診斷的優(yōu)點(diǎn)是,可以在設(shè)備運(yùn)行中并且無需拆卸的條件下進(jìn)行。不足之處是間接特征參量與故障之間的關(guān)系不是完全確定的。新型紅外熱像儀哪家便宜