福建顯微光譜測量系統(tǒng)專譜光電供應商

來源: 發(fā)布時間:2025-05-10

專譜顯微測量系統(tǒng)在 Mapping 方面的應用專譜光電的 ProSp-Micro 系列顯微光譜測量系統(tǒng)在 Mapping 方面具有強大的功能,能夠?qū)崿F(xiàn)多種光譜測量和成像應用。以下是其在 Mapping 方面的具體應用和特點:1. 二維掃描 Mapping 功能ProSp-Micro 系列顯微光譜測量系統(tǒng)可以選裝二維電控掃描臺,通過控制軟件設置面掃描采樣,獲取一定范圍內(nèi)的逐點掃描光譜數(shù)據(jù)。這種功能可用于表征材料表面微觀結(jié)構(gòu)和光譜成像。2. 多種光譜測量模式顯微熒光測量:系統(tǒng)可以進行顯微熒光光譜測量,適用于研究生物樣品、細胞和組織的熒光特性。顯微拉曼測量:系統(tǒng)支持顯微拉曼光譜測量,適用于材料成分分析和結(jié)構(gòu)鑒定。顯微反射測量:系統(tǒng)可以進行顯微反射光譜測量,適用于材料表面反射特性的研究。專譜鎢燈光源在紫外區(qū)域的增強能力,使得光纖傳感器能夠更好地檢測和分析紫外光響應的物質(zhì)。福建顯微光譜測量系統(tǒng)專譜光電供應商

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專譜量子效率測試系統(tǒng)是一種用于測量光電器件和材料量子效率的高性能設備。它廣泛應用于太陽能電池、光電探測器、LED、光電器件的研發(fā)和質(zhì)量控制。以下是其主要特點和功能:測量方法:外量子效率(EQE):衡量光電器件從外部光源接收光子并轉(zhuǎn)換為電子的效率,包括光吸收、電子遷移、表面反射等多個因素。內(nèi)量子效率(IQE):*考慮光電器件內(nèi)部的光電轉(zhuǎn)換效率,排除了因光的反射或透射而造成的損失。光譜范圍:250-2500 nm。高靈敏度探測器:采用高靈敏度的光電二極管或光電倍增管。自動化控制:集成自動化控制功能,能夠進行大規(guī)模、高通量的測試。多種測量功能:支持量子效率、光譜響應、IV特性等多種測量。青海DH-2000專譜光電設備通過光纖將鎢燈光源連接到顯微光譜測量模塊,專譜顯微測量系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)顯微反射光譜測量,覆蓋400-1100nm。

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產(chǎn)品應用微流控領域:觀察和精確定位樣品區(qū)域,進行熒光、拉曼和反射光譜測量。農(nóng)業(yè)領域:測量葉片熒光、拉曼或反射光譜,研究病蟲害情況。激光材料領域:研究材料熒光和拉曼信號,評價材料性能。光子晶體領域:測量微小區(qū)域的顏色值和顏色分布。珠寶、古籍檢測領域:通過反射、熒光或拉曼光譜進行種類識別和真假鑒定。軟件功能ProSp-Soft-QY 軟件支持多種光譜測量功能,包括透射吸收、反射、熒光、拉曼、輻射標定和二維掃描 MAP 等。ProSp-Micro 顯微光譜測量系統(tǒng)憑借其多功能集成、模塊化設計和高分辨率,成為科研和工業(yè)應用中的理想選擇。

珠寶和古籍檢測領域ProSp 系統(tǒng)通過測量樣品的反射、熒光或拉曼光譜,進行種類識別和真假鑒定。這使得系統(tǒng)能夠處理珠寶、古籍等樣品,幫助鑒定其成分和真?zhèn)巍?. 半導體發(fā)光二極管ProSp 系統(tǒng)能夠測量半導體發(fā)光二極管的電致發(fā)光量子效率,適用于 OLED、QLED 和 PeLED 等發(fā)光器件。這使得系統(tǒng)能夠處理半導體材料,幫助研究人員評估其發(fā)光性能。7. 微納結(jié)構(gòu)材料和器件ProSp 系統(tǒng)能夠測量微納結(jié)構(gòu)材料的反射率、透射率和散射特性,適用于薄膜材料、濾光片和表面等離子體耦合共振器件。這使得系統(tǒng)能夠處理微納結(jié)構(gòu)材料,幫助研究人員分析其光學特性。8. 發(fā)光材料和器件ProSp 系統(tǒng)能夠測量發(fā)光材料和器件的光譜特性,適用于 LED 光源和液晶顯示材料。這使得系統(tǒng)能夠處理發(fā)光材料,幫助研究人員評估其發(fā)光效率和光譜分布??偨Y(jié)ProSp 系統(tǒng)憑借其多功能性和高靈敏度,能夠處理多種類型的材料,廣泛應用于材料科學、生物醫(yī)學、環(huán)境監(jiān)測和工業(yè)檢測等領域。其在微流控、農(nóng)業(yè)、激光材料、光子晶體、珠寶檢測、半導體發(fā)光二極管、微納結(jié)構(gòu)材料和發(fā)光材料等領域的廣泛應用,展示了其強大的性能和靈活性。在納米激光器和超構(gòu)材料領域,專譜顯微測量系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)微區(qū)顯微光譜測量,二維掃描光譜測量。

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生物光學和量子光學專譜光電在生物光學和量子光學領域也有豐富的經(jīng)驗,提供多種解決方案,包括:共聚焦激光掃描顯微系統(tǒng):如 ProSp-Con50i,用于高分辨率成像。SERS 基底:用于表面增強拉曼光譜測量,適用于痕量分析和醫(yī)學診斷。4. 光電檢測設備專譜光電還提供多種光電檢測設備,包括:功率計和能量計:用于測量光功率和能量。光束分析儀:用于分析光束質(zhì)量。光電探測器:用于高靈敏度光檢測。5. 實驗樣品專譜光電提供多種實驗樣品,包括:熒光粒子:用于生物醫(yī)學研究。單粒子:適用于科研領域。功能化顆粒:用于多種實驗應用??偨Y(jié)專譜光電的產(chǎn)品線涵蓋了從光譜儀器到激光器系統(tǒng),再到光電檢測設備和實驗樣品的多個領域。其產(chǎn)品在科研、工業(yè)和環(huán)境監(jiān)測等領域具有廣泛的應用,為用戶提供了***的解決方案。分別實現(xiàn)顯微熒光/反射光譜測量、顯微拉曼光譜測量和顯微鏡功能。河南表面等離子體耦合共振器件專譜光電廠商

roSp系統(tǒng)能夠進行顯微熒光、拉曼和反射光譜的測量。福建顯微光譜測量系統(tǒng)專譜光電供應商

對于傳統(tǒng)積分球式的光致發(fā)光及電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng),我們使用積分球收集電致發(fā)光器件的發(fā)射光,光譜儀分析其強度,根據(jù)不同波長計算其光子數(shù),根據(jù)發(fā)射光子數(shù)與經(jīng)過器件的電流載流子數(shù)的比值,我們可以計算出樣品的電致發(fā)光量子效率 EQE 。因此,針對于不同發(fā)光強度及樣品區(qū)域的需求, 我們開發(fā)了這套 ProSp-ELQY 電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)。ProSp-ELQY電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)可變光強量子效率測試系統(tǒng)以模塊化思路設計,適合手套箱內(nèi)使用,應對無論是OLED,QLED,PeLED發(fā)光器件,可在器件制備的全流程中進行器件測試,測試系統(tǒng)經(jīng)過可溯源的光源進行定標,能夠進行準確的***量子產(chǎn)率,色度,和光譜測量。福建顯微光譜測量系統(tǒng)專譜光電供應商