芯片恒溫恒濕均勻性

激光干涉儀用于測量微小位移，精度可達(dá)納米級別。溫度波動哪怕只有 1℃，由于儀器主體與測量目標(biāo)所處環(huán)境溫度不一致，二者熱脹冷縮程度不同，會造成測量基線的微妙變化，導(dǎo)致測量位移結(jié)果出現(xiàn)偏差，在高精度機(jī)械加工零件的尺寸檢測中，這種偏差可能使零件被誤判為不合格品，增加生產(chǎn)成本。高濕度環(huán)境下，水汽會干擾激光的傳播路徑，使激光發(fā)生散射，降低干涉條紋的對比度，影響測量人員對條紋移動的精確判斷，進(jìn)而無法準(zhǔn)確獲取位移數(shù)據(jù)，給精密制造、航空航天等領(lǐng)域的科研與生產(chǎn)帶來極大困擾。精密環(huán)境控制設(shè)備依托自主研發(fā)的高精密控溫技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了 0.1% 的超高輸出精度。芯片恒溫恒濕均勻性

航空航天零部件加工對于溫濕度精度的要求非常高，任何細(xì)微偏差都可能引發(fā)嚴(yán)重后果。以航空發(fā)動機(jī)葉片為例，其復(fù)雜精妙的曲面造型，搭配極為嚴(yán)苛的性能標(biāo)準(zhǔn)，需要借助高精度數(shù)控機(jī)床，通過銑削、打磨等一系列精細(xì)加工工序來完成。然而，一旦溫度出現(xiàn)波動，機(jī)床的主軸、導(dǎo)軌等關(guān)鍵部件就會產(chǎn)生熱變形，進(jìn)而導(dǎo)致刀具切削路徑偏離原本預(yù)設(shè)的軌跡，致使葉片曲面精度無法達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求，這將直接對發(fā)動機(jī)的動力輸出以及可靠性造成影響。不僅如此，濕度發(fā)生變化時，金屬切削刀具極易生銹，這不僅縮短刀具的使用壽命，還會增加加工表面的粗糙度，難以契合航空零部件對表面質(zhì)量近乎苛刻的要求。重慶恒溫恒濕設(shè)備報(bào)價(jià)主要由設(shè)備主柜體、控制系統(tǒng)、氣流循環(huán)系統(tǒng)、潔凈過濾器、制冷(熱)系統(tǒng)、照明系統(tǒng)、局部氣浴等組成。

電子萬能試驗(yàn)機(jī)，作為材料力學(xué)性能測試設(shè)備，在金屬材料研發(fā)、塑料制品質(zhì)量檢測等眾多領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。它能夠開展材料拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)性能測試，為產(chǎn)品質(zhì)量把控與材料特性研究提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐。然而，環(huán)境溫濕度的波動對其影響極大。溫度波動時，試驗(yàn)機(jī)力傳感器的精度首先受到?jīng)_擊，測量的力值出現(xiàn)偏差，同時還會改變材料自身的力學(xué)性能，例如金屬在高溫下屈服強(qiáng)度降低，導(dǎo)致測試結(jié)果無法真實(shí)反映材料特性。濕度波動時，試驗(yàn)機(jī)的夾具、傳動部件極易生銹腐蝕，致使對試樣的夾持穩(wěn)定性大打折扣，加載均勻性也難以保證，進(jìn)一步降低測試精度。

在高濕度環(huán)境中，空氣里水汽含量增大，這對光學(xué)儀器而言，無疑是巨大的威脅。儀器內(nèi)部的鏡片猶如極易受潮的精密元件，當(dāng)水汽附著其上，便會在表面悄然形成一層輕薄且均勻的水膜。這層水膜宛如光線傳播的阻礙，大幅降低光線的透過率，致使成像亮度明顯減弱，對比度也隨之降低，觀測視野仿佛被蒙上一層朦朧的薄紗，原本清晰的景象變得模糊不清。倘若光學(xué)儀器長期處于這樣的高濕度環(huán)境，問題將愈發(fā)嚴(yán)重。水汽會逐漸滲透至鏡片與鏡筒的結(jié)合處，對金屬部件發(fā)起 “攻擊”，使之遭受腐蝕。隨著時間的推移，金屬部件被腐蝕得千瘡百孔，無法穩(wěn)固地固定鏡片，導(dǎo)致鏡片出現(xiàn)松動現(xiàn)象，光路精度被進(jìn)一步破壞。對于那些運(yùn)用鍍膜技術(shù)來提升光學(xué)性能的鏡片，高濕度同樣是一大勁敵，它會使鍍膜層受損，鏡片的抗反射能力大打折扣，進(jìn)而嚴(yán)重影響成像效果，讓光學(xué)儀器難以發(fā)揮應(yīng)有的作用。精密環(huán)境控制設(shè)備憑借超高精度溫度控制，保障內(nèi)部溫度水平均勻性小于 16mK/m。

我司自主研發(fā)的高精密控溫技術(shù)，控制輸出精度達(dá) 0.1%，能精細(xì)掌控溫度變化。溫度波動控制可選 ±0.1℃、±0.05℃、±0.01℃、±0.005℃、±0.002℃等多檔，滿足嚴(yán)苛溫度需求。該系統(tǒng)潔凈度表現(xiàn)優(yōu)異，可達(dá)百級、十級、一級。關(guān)鍵區(qū)域靜態(tài)溫度穩(wěn)定性 ±5mK，內(nèi)部溫度均勻性小于 16mK/m，為芯片研發(fā)等敏感項(xiàng)目營造理想溫場，保障實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)不受溫度干擾。濕度方面，8 小時內(nèi)穩(wěn)定性可達(dá) ±0.5%；壓力穩(wěn)定性為 +/-3Pa，設(shè)備還能連續(xù)穩(wěn)定工作 144 小時，助力長時間實(shí)驗(yàn)與制造。在潔凈度上，工作區(qū)潔凈度優(yōu)于 ISO class3，既確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果準(zhǔn)確可靠，又保障精密儀器正常工作與使用壽命，推動科研與生產(chǎn)進(jìn)步。該設(shè)備內(nèi)部通過風(fēng)機(jī)引導(dǎo)氣流以一定的方向循環(huán)，控制系統(tǒng)對每個環(huán)節(jié)進(jìn)行處理，使柜內(nèi)溫濕度達(dá)到超高精度。陜西光學(xué)儀器高精度恒溫恒濕

精密環(huán)境控制設(shè)備內(nèi)部，關(guān)鍵區(qū)域靜態(tài)下溫度穩(wěn)定性高，可達(dá) +/-5mK 精度。芯片恒溫恒濕均勻性

在科研與工業(yè)制造等眾多領(lǐng)域，光學(xué)儀器如激光干涉儀、光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡等，發(fā)揮著無可替代的關(guān)鍵作用，而它們對運(yùn)行環(huán)境的要求極為苛刻，尤其是溫濕度、潔凈度以及抗微震性能。精密環(huán)控柜的出現(xiàn)，為這些精密儀器提供了理想的運(yùn)行環(huán)境。以激光干涉儀為例，其憑借納米級別的高精度測量能力，在諸多精密領(lǐng)域不可或缺。但它對溫度極度敏感，哪怕有 0.01℃的溫度波動，由于儀器主體與測量目標(biāo)熱脹冷縮程度的差異，會造成測量基線改變，致使測量位移結(jié)果出現(xiàn)偏差。精密環(huán)控柜憑借超高精度溫度控制，將溫度波動控制在極小范圍，有力保障了激光干涉儀測量的準(zhǔn)確性。芯片恒溫恒濕均勻性