廣東電池串檢測儀

HIT技術(shù)是PERC之后的全新工藝。HIT電池早由日本三洋公司于1990年成功開發(fā)，因HIT已被三洋注冊為商標，因此又被稱為HJT或SHJ。而且異質(zhì)結(jié)電池效率可達23%-24%，工序少、可實現(xiàn)量產(chǎn)。缺點是制造設(shè)備貴、投資成本高，但未來將成為光伏電池技術(shù)的發(fā)力方向。光電轉(zhuǎn)換效率高、性能優(yōu)異、降成本空間大，平價上網(wǎng)前景好，是行業(yè)公認的未來電池技術(shù)解決方案。HIT電池制造包括5道工藝及設(shè)備。相比于PERC電池，HIT電池在制備過程對清潔度要求高，需要對設(shè)備和車間做到更高程度的潔凈度，因此不能與傳統(tǒng)電池的生產(chǎn)車間兼容。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司致力于提供檢測，歡迎您的來電哦！廣東電池串檢測儀

多晶硅組件的制作工藝與單晶硅差不多，但是多晶硅的光電轉(zhuǎn)換效率則要降低一些。多晶硅比單晶硅太陽能電池的制作成本要便宜一些，材料制造簡便，節(jié)約電耗，總的生產(chǎn)成本較低，因此得到大量發(fā)展。外觀上多晶硅電池片的四個角呈現(xiàn)方角，表面有類似冰花一樣的花紋。對于使用者來說，單晶硅電池和多晶硅電池沒有太大的區(qū)別，它們的壽命和穩(wěn)定性都很好。單晶硅電池平均轉(zhuǎn)換效率要比多晶硅高，但是目前價格比多晶也高。非晶硅組件也就是我們所說的薄膜組件，它的制作工藝過程簡化，硅材料消耗很少，電耗更低，它的主要優(yōu)點是在弱光條件也能發(fā)電。但非晶硅太陽電池存在的主要問題是光電轉(zhuǎn)換效率偏低。北京光伏檢測系統(tǒng)檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，用戶的信賴之選，有想法的不要錯過哦！

近年來，光伏產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅猛，提高效率和降低成本成為整個行業(yè)的目標。在晶體Si太陽電池的薄片化發(fā)展過程中，出現(xiàn)了許多嚴重的問題，如碎片、電池片隱裂、表面污染、電極不良等，正是這些缺點限制了電池的光電轉(zhuǎn)化效率和使用壽命。同時，由于沒有完善的行業(yè)標準，Si片原材料質(zhì)量也是參差不齊，一些缺點片的存在直接影響到組件乃至光伏系統(tǒng)的穩(wěn)定性。因此，太陽能行業(yè)需要有快速有效和準確的定位檢驗方法來檢驗生產(chǎn)環(huán)節(jié)可能出現(xiàn)的問題。

為解決產(chǎn)業(yè)化落地的現(xiàn)實問題,助力AI企業(yè)占領(lǐng)未來發(fā)展高地。在9月6日的北京服貿(mào)會上,數(shù)據(jù)標注行業(yè)的頭部企業(yè)——云測數(shù)據(jù)的服務(wù)成果正式發(fā)布,并向外界展示了高交付精細度達99.99%這一傲人成果。這是目前數(shù)據(jù)標注領(lǐng)域可達到的高服務(wù)標準,成為AI數(shù)據(jù)服務(wù)邁入更高質(zhì)時代的一大里程碑。借著云測數(shù)據(jù)在服貿(mào)會上 “無數(shù)據(jù)不AI,云測數(shù)據(jù)服務(wù)標準發(fā)布” 成果發(fā)布的契機,我們對云測數(shù)據(jù)進行了專訪,以更好向大家展示高質(zhì)量AI數(shù)據(jù)能夠帶來何種未來智能生活上的改變以及人工智能行業(yè)意義。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司為您提供檢測，有想法的可以來電咨詢！

電位誘發(fā)衰減效應(yīng)是電池組件長期在高電壓作用下，使玻璃、封裝材料之間存在漏電流，大量電荷狙擊在電池片表面，使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致組件性能低于設(shè)計標準。PID現(xiàn)象嚴重時，會引起一塊組件功率衰減50%以上，從而影響整個組串的功率輸出。一是系統(tǒng)設(shè)計原因：光伏電站的防雷接地是通過將方陣邊緣的組件邊框接地實現(xiàn)的，這就造成在單個組件和邊框之間形成偏壓，組件所處偏壓越高則發(fā)生PID現(xiàn)象越嚴重。對于P型晶硅組件，通過有變壓器的逆變器負極接地，消除組件邊框相對于電池片的正向偏壓會有效的預(yù)防PID現(xiàn)象的發(fā)生，但逆變器負極接地會增加相應(yīng)的系統(tǒng)建設(shè)成本;二是光伏組件原因：高溫、高濕的外界環(huán)境使得電池片和接地邊框之間形成漏電流，封裝材料、背板、玻璃和邊框之間形成了漏電流通道。通過使用改變絕緣膠膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是實現(xiàn)組件抗PID的方式之一，在使用不同EVA封裝膠膜條件下，組件的抗PID性能會存在差異。三是電池片原因：電池片方塊電阻的均勻性、減反射層的厚度和折射率等對PID性能都有著不同的影響。上述引起PID現(xiàn)象的三方面中，由在光伏系統(tǒng)中的組件邊框與組件內(nèi)部的電勢差而引起的組件PID現(xiàn)象被行業(yè)所公認。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司致力于提供檢測，有想法的不要錯過哦！上海光伏檢測設(shè)備

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EL檢測儀，又稱太陽能組件電致發(fā)光缺點檢測儀，是跟據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對組件進行缺點檢測及生產(chǎn)工藝監(jiān)控的測試設(shè)備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會發(fā)出1000-1100nm的紅外光，測試儀下方的攝像頭可以捕捉到這個波長的光并成像于電腦上。因為通電發(fā)的光與PN結(jié)中離子濃度有很大的關(guān)系，因此可以根據(jù)圖像來判斷硅片內(nèi)部的狀況。EL照片中黑心片是反映在通電情況下電池片中心一圈呈現(xiàn)黑域，該部分沒有發(fā)出1150nm的紅外光，故紅外相片中反映出黑心，此類發(fā)光現(xiàn)象和硅襯底少數(shù)載流子濃度有關(guān)。這種電池片中心部位的電阻率偏高。廣東電池串檢測儀