江西高速光學(xué)非接觸系統(tǒng)哪里可以買(mǎi)到

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-09-17

隨著我國(guó)航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展,新型飛行器的飛行速度不斷提高,這對(duì)其熱防護(hù)結(jié)構(gòu)提出了更高的要求。因此,熱結(jié)構(gòu)材料的高溫力學(xué)性能成為熱防護(hù)系統(tǒng)和飛行器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的重要依據(jù)。數(shù)字圖像相關(guān)法(DIC)是一種新興的光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量方法,相比傳統(tǒng)的變形測(cè)量方法,它具有適用范圍廣、環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)、操作簡(jiǎn)單和測(cè)量精度高等優(yōu)點(diǎn),特別是在高溫實(shí)驗(yàn)中具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。某單位采用兩臺(tái)高速相機(jī)拍攝風(fēng)洞風(fēng)載下垂尾模型的震顫研究情況,并通過(guò)光學(xué)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)分析不同風(fēng)速下各個(gè)位置(標(biāo)記點(diǎn))的振動(dòng)和散斑(C區(qū)域)的變形狀態(tài),獲得了該尾翼振動(dòng)模態(tài)參數(shù)和振型。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量應(yīng)用于地質(zhì)災(zāi)害監(jiān)測(cè)和預(yù)防。江西高速光學(xué)非接觸系統(tǒng)哪里可以買(mǎi)到

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光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量是一種先進(jìn)的測(cè)量技術(shù),通過(guò)利用光學(xué)原理來(lái)測(cè)量物體的應(yīng)變情況。相比傳統(tǒng)的接觸式應(yīng)變測(cè)量方法,光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量具有許多優(yōu)勢(shì)。這里將詳細(xì)介紹光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量的優(yōu)勢(shì)。首先,光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量具有高精度的優(yōu)勢(shì)。傳統(tǒng)的接觸式應(yīng)變測(cè)量方法需要使用傳感器與被測(cè)物體接觸,這樣會(huì)引入額外的測(cè)量誤差。而光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量方法可以通過(guò)光學(xué)傳感器對(duì)物體進(jìn)行遠(yuǎn)程測(cè)量,避免了接觸式測(cè)量中的誤差。光學(xué)傳感器可以精確地測(cè)量物體表面的形變,從而獲得高精度的應(yīng)變數(shù)據(jù)。山東三維全場(chǎng)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測(cè)量裝置光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量在工程領(lǐng)域得到普遍應(yīng)用,但對(duì)于復(fù)雜結(jié)構(gòu)或多個(gè)應(yīng)變分量的測(cè)量仍需探討。

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光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)與其他應(yīng)變測(cè)量方法相比有何優(yōu)勢(shì)?應(yīng)變測(cè)量是工程領(lǐng)域中非常重要的一項(xiàng)技術(shù),用于評(píng)估材料或結(jié)構(gòu)在受力下的變形情況。隨著科技的不斷發(fā)展,出現(xiàn)了多種應(yīng)變測(cè)量方法,其中光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)因其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)而備受關(guān)注。這里將探討光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)與其他應(yīng)變測(cè)量方法相比的優(yōu)勢(shì)。首先,光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)具有非接觸性。與傳統(tǒng)的應(yīng)變測(cè)量方法相比,如電阻應(yīng)變片或應(yīng)變計(jì),光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)無(wú)需直接接觸被測(cè)物體,避免了傳感器與被測(cè)物體之間的物理接觸,從而減少了測(cè)量誤差的可能性。此外,非接觸性還使得光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)適用于高溫、高壓等特殊環(huán)境下的應(yīng)變測(cè)量,而傳統(tǒng)方法可能無(wú)法勝任。

一般來(lái)說(shuō),光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量范圍越大,可以測(cè)量的應(yīng)變范圍就越廣。例如,對(duì)于一些強(qiáng)度高材料或者在極端環(huán)境下工作的材料,需要具備較大的測(cè)量范圍才能滿足測(cè)量要求。然而,測(cè)量范圍的增大往往會(huì)導(dǎo)致測(cè)量精度的降低。測(cè)量精度是指測(cè)量結(jié)果與真實(shí)值之間的偏差。在光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量中,測(cè)量精度受到多種因素的影響,包括光源的穩(wěn)定性、光學(xué)元件的質(zhì)量、干涉圖案的清晰度等。當(dāng)測(cè)量范圍增大時(shí),由于應(yīng)變的變化范圍增大,測(cè)量系統(tǒng)需要更高的靈敏度來(lái)檢測(cè)微小的干涉圖案變化,從而提高測(cè)量精度。然而,提高靈敏度往往會(huì)增加系統(tǒng)的復(fù)雜性和成本,同時(shí)也會(huì)增加系統(tǒng)的噪聲和干擾,從而降低測(cè)量精度。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量的測(cè)量范圍取決于測(cè)量系統(tǒng)的靈敏度和測(cè)量設(shè)備的性能。

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光學(xué)應(yīng)變測(cè)量主要用于測(cè)量物體的應(yīng)變分布,可以應(yīng)用于材料力學(xué)、結(jié)構(gòu)工程、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。它可以提供物體表面應(yīng)變的定量信息,對(duì)于研究物體的力學(xué)性質(zhì)和結(jié)構(gòu)變化具有重要意義。而光學(xué)干涉測(cè)量主要用于測(cè)量物體表面的形變,可以應(yīng)用于光學(xué)元件的制造、光學(xué)鏡面的檢測(cè)、光學(xué)薄膜的質(zhì)量控制等領(lǐng)域。它可以提供物體表面形變的定性信息,對(duì)于研究物體的形狀變化和表面質(zhì)量具有重要意義??偨Y(jié)起來(lái),光學(xué)應(yīng)變測(cè)量和光學(xué)干涉測(cè)量是兩種不同的光學(xué)測(cè)量方法。光學(xué)應(yīng)變測(cè)量通過(guò)測(cè)量物體表面的應(yīng)變來(lái)獲得物體應(yīng)力狀態(tài)的信息,而光學(xué)干涉測(cè)量通過(guò)測(cè)量物體表面的形變來(lái)獲得物體形狀和表面質(zhì)量的信息。它們?cè)跍y(cè)量原理和應(yīng)用領(lǐng)域上有著明顯的不同,但都在科學(xué)研究和工程應(yīng)用中發(fā)揮著重要的作用。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量可以通過(guò)測(cè)量干涉圖案的變化來(lái)獲取材料的應(yīng)變信息。江西高速光學(xué)非接觸系統(tǒng)哪里可以買(mǎi)到

光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量通過(guò)三維成像技術(shù)進(jìn)行精確的應(yīng)力測(cè)量。江西高速光學(xué)非接觸系統(tǒng)哪里可以買(mǎi)到

金屬應(yīng)變計(jì)的實(shí)際應(yīng)變計(jì)因子可通過(guò)傳感器廠商或相關(guān)文檔獲取,通常約為2。實(shí)際上,應(yīng)變測(cè)量的量很少大于幾個(gè)毫應(yīng)變(ex10?3),因此必須精確測(cè)量電阻極微小的變化。例如,如果測(cè)試樣本的實(shí)際應(yīng)變?yōu)?00me,應(yīng)變計(jì)因子為2的應(yīng)變計(jì)可檢測(cè)的電阻變化為2(500x10??)=0.1%。對(duì)于120Ω的應(yīng)變計(jì),變化值單為0.12Ω。為了測(cè)量如此小的電阻變化,應(yīng)變計(jì)采用基于惠斯通電橋的配置概念。常見(jiàn)的惠斯通電橋由四個(gè)相互連接的電阻臂和激勵(lì)電壓VEX組成。江西高速光學(xué)非接觸系統(tǒng)哪里可以買(mǎi)到