測(cè)試針帶動(dòng)ICT測(cè)試冶具的運(yùn)行嗎?隨著信息技術(shù)時(shí)代的發(fā)展,而今信息化表示了世界發(fā)展的潮流。信息產(chǎn)業(yè)不僅推動(dòng)了全球的經(jīng)濟(jì)發(fā)展,而且成為科技創(chuàng)新的中心力量。ICT市場(chǎng)前景廣闊,那ICT測(cè)試治具來說吧:ICT測(cè)試冶具是整個(gè)ICT設(shè)計(jì)、流片、應(yīng)用過程中不可或缺的一環(huán),它不僅可幫助廠商大幅節(jié)省測(cè)試成本,且測(cè)試結(jié)果直觀可靠。測(cè)試針是ICT測(cè)試冶具中的重要零件之一,那么它主要起到了什么作用呢?1、增強(qiáng)耐用度:ICT測(cè)試冶具測(cè)試針設(shè)計(jì)使彈簧空間比傳統(tǒng)探針要大,因而可以達(dá)到更長(zhǎng)的壽命和容納更強(qiáng)的彈力。2、獨(dú)有的一直不間斷電接觸設(shè)計(jì):行程超過或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值,徹底消除任何因探針導(dǎo)致的假性開路誤叛。3、至目標(biāo)測(cè)點(diǎn)準(zhǔn)確度誤差更嚴(yán)謹(jǐn):ICT測(cè)試冶具的測(cè)試針能達(dá)到同類型產(chǎn)品無法比擬的至目標(biāo)測(cè)點(diǎn)準(zhǔn)確度。ICT測(cè)試冶具通用性高,只需更換顆粒限位框,即可測(cè)試尺寸不同的顆粒;采用超短進(jìn)口雙頭探針設(shè)計(jì),相比同類測(cè)試產(chǎn)品,可使ICT和PCB之間的數(shù)據(jù)傳輸距離更短,從而保證測(cè)試結(jié)果更穩(wěn)定,頻率更高,DDR3系列較高頻率可達(dá)2000MHz。ICT三極管測(cè)試:三極管分三步測(cè)試。廣州ict在線測(cè)試儀器供應(yīng)商
ICT測(cè)試原理:1)電阻測(cè)試:電阻是測(cè)試其阻值。其工作原理很簡(jiǎn)單,就是在電阻的測(cè)試針上加一個(gè)電流,然后測(cè)試這個(gè)電阻兩端的電壓,利用歐姆定律:R=U/I算出該電阻的阻值。2)電容測(cè)試:測(cè)試電容是測(cè)量其容量。小電容的測(cè)試方法與電阻類似,不過是用交流信號(hào),利用XC=U/I同時(shí),XC=1/(ωC)而得C=I/(Uω)=I/(2πfU)F是測(cè)試頻率,U、I是測(cè)試信號(hào)的電壓和電流有效值。大容量的電容測(cè)試用DC方法,即用直流電壓加在電容兩端,充電流隨時(shí)間或指數(shù)減少的規(guī)律,在測(cè)試時(shí)加一定的延時(shí)時(shí)間就可測(cè)出其容量。深圳在線測(cè)試治具生產(chǎn)廠家故障位置、零件規(guī)范值、測(cè)試值,ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果。
導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因分析:IC空焊不良(以TestJet測(cè)試)測(cè)試值偏小,可能原因:1)IC的此腳空焊;2)測(cè)試針接觸不良;3)從測(cè)試點(diǎn)至IC腳之間Open。4)IC此腳的內(nèi)部不良(可能性極少);測(cè)試值偏大,可能原因:1)有短路現(xiàn)象;2)IC此腳的內(nèi)部不良(可能性極少)。4.元器件不良,測(cè)試值偏差超差比較小,則可能原因:1)器件本身的偏差就這么大;2)ICT測(cè)試冶具測(cè)試針的接觸電阻較大;3)錯(cuò)件、焊接不良、反裝。測(cè)試值偏差超差比較大,則可能原因:1)器件壞掉;2)測(cè)試針壞掉(與該針相連的器件均超差比較大)3)測(cè)試點(diǎn)上有松香等絕緣物品;4)PCB上銅箔斷裂,或ViaHole與銅箔之間Open。5)錯(cuò)件、漏件、反裝;6)器件焊接不良。
不管是故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等提供給維修人員參考,可以**地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴度。ICT測(cè)試治具能夠?qū)⑸厦嫠墓收弦杂”頇C(jī)印出測(cè)試結(jié)果,不管是故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等提供給維修人員參考,可以**地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴度。ICT測(cè)試治具能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì),自動(dòng)化測(cè)試治具,生產(chǎn)管理人員加以分析,模組測(cè)試治具,可以找出各種不良的產(chǎn)生原因,包括人為的因素在內(nèi),使之各個(gè)解決、完善、指正,藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。ICT治具驗(yàn)收審核標(biāo)準(zhǔn):外型尺寸是否和要求一致,即長(zhǎng),寬,高(行程)。
ICT治具結(jié)構(gòu)組成與驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn),一、ICT治具結(jié)構(gòu)組成:1、針板:用于固定測(cè)試針。針頭是鍍金的。2、載板:用于放置保護(hù)被測(cè)試PCBA。3、天板:固定于ICT機(jī)臺(tái)氣缸上壓合治具和被測(cè)試PCBA。二、ICT治具關(guān)鍵控制點(diǎn):1、板厚、高度、定位孔高度直徑、探針位置、銑讓位、擋柱等都需符合設(shè)計(jì)規(guī)范,有計(jì)數(shù)器用來計(jì)算探針測(cè)試次數(shù)。2、探針的使用規(guī)定的型號(hào)與廠商一致;上下載板必須用ESD的電木板材質(zhì)(ESD=107~109Ω,使用SL-030靜電測(cè)量表量測(cè));各種繞線需按規(guī)定用線,通常使用AWG18-AWG22號(hào)線,必須加熱縮套管,繞線要分散,不能捆綁;testjet感應(yīng)板要小于零件本體表面面積,但不能小于零件本體的2/3.具體標(biāo)準(zhǔn)以實(shí)際零件為準(zhǔn),以測(cè)量值較大為較佳。3、ICT的測(cè)試內(nèi)容需覆蓋85%以上的電路。ICT治具驗(yàn)收審核標(biāo)準(zhǔn):載板是否平整,無翹曲,同PCBA吻合。廣州ict在線測(cè)試儀器供應(yīng)商
ICT治具的優(yōu)點(diǎn):ICT對(duì)錯(cuò)誤檢查準(zhǔn)確穩(wěn)定,避免人員對(duì)故障的錯(cuò)誤猜測(cè)。廣州ict在線測(cè)試儀器供應(yīng)商
ICT測(cè)試治具能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量,對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試,對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試,如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。ICT測(cè)試治具通過直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞,Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路,元件插錯(cuò)、插反、漏裝,管腳翹起、虛焊,PCB短路、斷線等故障。測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上,故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試,操作簡(jiǎn)單,測(cè)試快捷迅速,單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。在線測(cè)試通常是生產(chǎn)中首先道測(cè)試工序,能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況,利于工藝改進(jìn)和提升。ICT測(cè)試治具測(cè)試過的故障板,因故障定位準(zhǔn),維修方便,可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測(cè)試項(xiàng)目具體,是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。廣州ict在線測(cè)試儀器供應(yīng)商