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ICT測試不良及常見故障的分析方法：零件不良：所謂零件不良是指在ICT測試時(shí)，顯示“OpenFail”在零件不良打印報(bào)表中其量測值往往與該零件的標(biāo)準(zhǔn)值不一致，而存在一定的偏移，這種偏移有時(shí)很大，有時(shí)很小，出現(xiàn)的原因也很多，下面分以下幾個(gè)步驟加以分析：A．如果是M-V：9999.99Dev：+999.9%，那么可能存在的原因有以下幾個(gè)方面：（1）空焊（2）漏件；（3）PCB開路（4）測試點(diǎn)有問題：a．針未接觸到；b．測試點(diǎn)氧化；c．測試點(diǎn)有東西擋??；d．測試點(diǎn)在防焊區(qū)。ICT測試治具是由針板、載板、天板組成的。無錫ICT治具銷售公司

對(duì)測試治具的季節(jié)性保養(yǎng)有什么要注意的？季節(jié)結(jié)束保養(yǎng)：(長時(shí)間不用，記得排清水分和切斷電源哦!)為防止凍結(jié)損壞機(jī)體及蚊蟲滋生，長時(shí)間停用時(shí)，應(yīng)關(guān)閉自來水后，再按清洗按鈕排清不份，并切斷電源。季節(jié)前保養(yǎng)：在使用季節(jié)開始前，檢查機(jī)組周邊及進(jìn)風(fēng)口有無阻礙物。如何正確的運(yùn)用測試治具的功能呢？在使用測試治具的時(shí)候要注意制作好后存放治具制作房，且放置在治具的鐵架上，并作好型號(hào)標(biāo)識(shí)。當(dāng)治具出現(xiàn)斷針和老化時(shí)可換針維護(hù)繼續(xù)使用，用進(jìn)口探針任意選擇;當(dāng)治具出現(xiàn)損壞無法修復(fù)使用和客戶變更不再使用的，可申請報(bào)廢重新制作，治具領(lǐng)用由電測房負(fù)責(zé)人登記領(lǐng)用，用完后歸還于治具房并做好交接。合肥ICT測試儀器哪家好ICT測試治具的鉆孔文件的常規(guī)表示方法：T4表示板內(nèi)定位柱以及板外擋位柱。

ICT測試治具能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測試，如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。可通過直接對(duì)在線器件電氣性能的測試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。測試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測試，操作簡單，測試快捷迅速，單板的測試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。

ICT測試治具的應(yīng)力測試為什么很重要？ICT測試治具在現(xiàn)在電子廠里作為首先的一道檢測環(huán)節(jié)發(fā)揮著很重要的作用，那么ICT測試治具為什么能夠如此的重要呢？他有那些作用呢？ICT測試治具能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板上零件：電阻、電容、電感、電晶體、FET、LED,普通二極體、穩(wěn)壓二極體、光藕器、IC等零件是否在我們設(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。.ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測試結(jié)果，包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測試值，以供維修人員參考?？梢杂行Ы档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度等。評(píng)價(jià)ICT治具參數(shù)要求：覆蓋率=可測試零件數(shù)/總零件個(gè)數(shù)≥85%。

測試治具探針的選擇：測試治具，壓床式的測試治具，一般都會(huì)用到探針，所以在測試治具設(shè)計(jì)時(shí)，探針的選擇非常重要。治試治具的探針，已經(jīng)做的標(biāo)準(zhǔn)化了，如大小、長度、高度、行程等，都有一系列的數(shù)值參數(shù)。所以我們要做的就像選擇螺絲一樣，只能選擇探針的型號(hào)規(guī)格，而不能想當(dāng)然的想要多少就要多少，想要哪類就要哪類。一般來說，探針的型號(hào)，測試治具很重要的是探針的直徑大小。探針的大小用mil為單位的，此單位為英制的。單位的換算為100mil=2.54mm＝0.1in。老化ICT測試治具：用于對(duì)產(chǎn)品或半成品進(jìn)行抗疲勞的試驗(yàn)。沈陽在線ICT測試儀器廠家

ICT治具的優(yōu)點(diǎn)：將有效的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移到管理層，以便對(duì)測試前的生產(chǎn)工藝進(jìn)行監(jiān)督。無錫ICT治具銷售公司

應(yīng)用擴(kuò)展：除了ICT測試過程外，類似活動(dòng)包括四點(diǎn)彎曲測試、電路板子卡或連接器插入過程、分板過程、散熱器連接、對(duì)電路板的不適當(dāng)支撐等都會(huì)引起電路板過應(yīng)力失效，這些也可以通過Sherlock的ICT測試模塊進(jìn)行仿真。ICT技術(shù)參數(shù)：1)測試速度測試一塊電路板的較少時(shí)間。測試速度與電路板的復(fù)雜程度有關(guān)。2)測試范圍電阻的測試范圍：一般0.05Ω～40MΩ；電容的測試范圍：一般1pF～40000μF電感的測試范圍：一般1μH～40H5)測試電壓、電流、頻率測試電壓一般為0～10V測試電流一般為1μA～80mA頻率一般為1Hz～100KHz6)電路板尺寸較大的電路板尺寸一般為460×350mm。無錫ICT治具銷售公司