無(wú)錫ICT自動(dòng)化測(cè)試治具

導(dǎo)致檢測(cè)治具的測(cè)試值偏差的原因有哪些？1、首先產(chǎn)生比較大的偏差情況，我們首先要檢查一下測(cè)試治具器件，很有可能是測(cè)試測(cè)試器件壞掉了。2、還有可能是測(cè)試治具的測(cè)試針壞掉，主要是看與該針相連的器件是否都超差比較大。3、測(cè)試點(diǎn)上有松香等絕緣物品，這些物品的存在也會(huì)導(dǎo)致檢測(cè)的結(jié)果出現(xiàn)偏差。4、PCB上銅箔斷裂，治具的測(cè)試值偏差超差比較大，或ViaHol與銅箔之間Open。5、測(cè)試治具上有錯(cuò)件、漏件、反裝等現(xiàn)象也會(huì)導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果出現(xiàn)偏差。6、測(cè)試治具上器件焊接觸不良的情況會(huì)有可能使得檢測(cè)結(jié)果有偏差。故障位置、零件規(guī)范值、測(cè)試值，ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果。無(wú)錫ICT自動(dòng)化測(cè)試治具

解決ICT測(cè)試治具的成本：一、大幅降低測(cè)試成本。因通用治具的鋼針單價(jià)極低且可以回收，所以只需考慮有機(jī)玻璃/纖維板以及鉆孔費(fèi)用。制作檢測(cè)流程較為簡(jiǎn)單，無(wú)須繞線等工藝，減少了人工費(fèi)用。二、因鋼針制作較彈簧針容易制作，所以鋼針可以做到很小SIZE，從而保證設(shè)針及測(cè)試的精確度。裝配、調(diào)試時(shí)間短，維修簡(jiǎn)單方便等。就目前國(guó)內(nèi)PCB業(yè)界來(lái)看，其中傳統(tǒng)的專(zhuān)門(mén)測(cè)試還是占據(jù)了絕大比例。近兩年來(lái)做為從專(zhuān)門(mén)向通用過(guò)渡的復(fù)合治具測(cè)試逐漸興起，說(shuō)明不少PCB廠商已經(jīng)意識(shí)到專(zhuān)門(mén)治具測(cè)試的以上問(wèn)題已經(jīng)成為PCB測(cè)試的嚴(yán)重阻礙。復(fù)合治具測(cè)試在一定程度上緩解了專(zhuān)門(mén)治具成本上的困繞，但并未解決以上所有問(wèn)題。隨著HDI（高密互連）PCB逐漸成為PCB廠商投資的熱點(diǎn)，傳統(tǒng)專(zhuān)門(mén)測(cè)試技術(shù)更是大受沖擊，一些大的PCB廠商已經(jīng)開(kāi)始向國(guó)外借鑒，逐漸嘗試引入通用測(cè)試技術(shù)。連云港ICT測(cè)試治具多少錢(qián)治具的設(shè)計(jì)基本上是建立于邏輯，類(lèi)似的治具可能會(huì)因?yàn)槭褂糜诓煌臅r(shí)間和地點(diǎn)而分別產(chǎn)生。

功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具的區(qū)別，應(yīng)用場(chǎng)景不同，功能測(cè)試治具主要應(yīng)用于模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路等的測(cè)試，主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量、壓力測(cè)量、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測(cè)試項(xiàng)目。而ICT測(cè)試治具它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，成批量的板子，附加值高且定型的板子，以及模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能等的測(cè)試。制作原理不同，功能測(cè)試治具的主要考慮工件的定位、緊固以及如何實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試；而ICT測(cè)試治具根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳，測(cè)試點(diǎn)的位置打孔，然后插針，把電路板中的網(wǎng)絡(luò)(NET)就是PCB走線，全部引出來(lái)，達(dá)到外部來(lái)用儀器測(cè)試其內(nèi)部是電路結(jié)構(gòu)即可。其實(shí)不管是功能測(cè)試治具還是ICT測(cè)試治具都是測(cè)試治具下的一個(gè)分類(lèi)，使用他們的目的都是一樣的，為了提高產(chǎn)品的質(zhì)量和降低生產(chǎn)產(chǎn)品不良率。

功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具的區(qū)別，我們知道測(cè)試治具是專(zhuān)門(mén)對(duì)產(chǎn)品的功能、功率校準(zhǔn)、壽命、性能等進(jìn)行測(cè)試、試驗(yàn)的一種治具。根據(jù)測(cè)試功能的不同它又可分為鉆孔工具、功能測(cè)試治具、ICT測(cè)試治具、過(guò)錫爐治具等測(cè)試治具，而由于功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具應(yīng)用場(chǎng)景的相近很多用戶往往不知道它們的區(qū)別是什么，首先測(cè)試功能不同，功能測(cè)試治具是一種用來(lái)測(cè)試半成品/成品或生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的某一個(gè)工序，主要是對(duì)產(chǎn)品的功能進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備，以此來(lái)判斷被測(cè)對(duì)象是否達(dá)到了初始設(shè)計(jì)者目的的機(jī)械輔助治具；而ICT測(cè)試治具是對(duì)在線元器件的性能、原理及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。ICT測(cè)試治具中所選用的板材一般有壓克力(有機(jī)玻璃)、環(huán)氧樹(shù)脂板等。

ICT測(cè)試治具的針應(yīng)該如何保養(yǎng)？1、測(cè)試針擦拭時(shí)應(yīng)該要注意使用防靜電刷是安全和快速的方法。金屬刷可能會(huì)損害針頭或鍍層，造成不順利的測(cè)試結(jié)果。2、對(duì)ICT測(cè)試環(huán)境保養(yǎng)，保持環(huán)境干凈。測(cè)試環(huán)境是弄臟測(cè)試針主要的促成因素，空氣傳播中的污染物，像灰塵會(huì)掉落在針頭上引起接觸問(wèn)題。一個(gè)好的環(huán)境保護(hù)會(huì)確保測(cè)試針的清潔度。3、ICT測(cè)試針按正確的流程操作測(cè)試PCB板時(shí)還有一個(gè)因素要考慮，測(cè)試太厚松香的板子不只造成不良的電氣接觸，也會(huì)留住松香在測(cè)試針上造成接下來(lái)的測(cè)試。一個(gè)良好的流程控制對(duì)于減低松香在PCB板上是相當(dāng)重要的。ICT電感測(cè)試：電感的測(cè)試方法和電容的測(cè)試類(lèi)似，只用交流信號(hào)測(cè)試。金華在線測(cè)試儀器廠家報(bào)價(jià)

ICT治具驗(yàn)收審核標(biāo)準(zhǔn)：外型尺寸是否和要求一致，即長(zhǎng)，寬，高（行程）。無(wú)錫ICT自動(dòng)化測(cè)試治具

關(guān)于PCBA制作ICT治具的注意事項(xiàng)，測(cè)試點(diǎn)：1、被測(cè)點(diǎn)應(yīng)離板邊或折邊至少0.100＂。2、盡量避免將被測(cè)點(diǎn)置于SMT零件上，因?yàn)榭山佑|錫面太小，而且容易壓傷零件。3、盡量避免使用過(guò)長(zhǎng)零件腳(大于0.170＂(4.3mm))或過(guò)大的孔徑(大于1.5mm)為被測(cè)點(diǎn)，需特殊處理。定位孔：1、待測(cè)PCB須有2個(gè)或以上的定位孔，且孔內(nèi)不能沾錫，其位置較好在PCB之對(duì)角。2、定位孔選擇以對(duì)角線，距離較遠(yuǎn)之2孔為定位孔。3、被測(cè)點(diǎn)至定位孔位置公差應(yīng)為+/-0.002＂。4、定位孔(ToolingHole)直徑較好為0.125＂(3.175mm)，公差在＂+0.002＂/-0.001＂。無(wú)錫ICT自動(dòng)化測(cè)試治具

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