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ICT測(cè)試不良及常見故障的分析方法：開路不良：所謂開路不良就是指在某一個(gè)短路群中，各個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間本來應(yīng)該是短路，但卻出現(xiàn)了某個(gè)測(cè)試點(diǎn)對(duì)其所在短路群的其它測(cè)試點(diǎn)是開路的。出現(xiàn)開路不良的可能原因有如下幾個(gè)方面：(1)PCBOpen；(2)零件造成的；它又包括如下幾個(gè)方面：A．立件與漏件；B．空焊；C．零件不良。(3)測(cè)試點(diǎn)有問題A．探針未接觸到；B．測(cè)試點(diǎn)氧化；C．測(cè)試點(diǎn)有東西擋?。籇．測(cè)試點(diǎn)在防焊區(qū)。有利于提高產(chǎn)品的質(zhì)量和測(cè)試效率。ICT測(cè)試治具測(cè)試程式自動(dòng)生成，避免手工輸入出錯(cuò)。深圳ICT儀器直銷廠家

ICT測(cè)試原理：1）電阻測(cè)試：電阻是測(cè)試其阻值。其工作原理很簡(jiǎn)單，就是在電阻的測(cè)試針上加一個(gè)電流，然后測(cè)試這個(gè)電阻兩端的電壓，利用歐姆定律：R=U/I算出該電阻的阻值。2)電容測(cè)試：測(cè)試電容是測(cè)量其容量。小電容的測(cè)試方法與電阻類似，不過是用交流信號(hào)，利用XC=U/I同時(shí)，XC=1/(ωC)而得C=I/(Uω)=I/(2πfU)F是測(cè)試頻率，U、I是測(cè)試信號(hào)的電壓和電流有效值。大容量的電容測(cè)試用DC方法，即用直流電壓加在電容兩端，充電流隨時(shí)間或指數(shù)減少的規(guī)律，在測(cè)試時(shí)加一定的延時(shí)時(shí)間就可測(cè)出其容量。鄭州在線ICT測(cè)試治具供應(yīng)商ICT具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。

ICT測(cè)試主要測(cè)試什么？1.短路，錯(cuò)件、缺件、立碑、架橋、極性反等；2.測(cè)量電阻、電容、電感、二極管、穩(wěn)壓二極管、繼電器、IC、連接器等零件。3.電性功能測(cè)試。4.測(cè)試主動(dòng)零件的功能。為了提前避免失誤和發(fā)現(xiàn)問題，在生產(chǎn)過程中需要對(duì)ICT步驟進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)量并監(jiān)控，以確定產(chǎn)品應(yīng)力應(yīng)變處于允許范圍內(nèi)。如果測(cè)量值超過了電路板允許的應(yīng)力應(yīng)變水平的較大值，將對(duì)電路板進(jìn)行重新布局設(shè)計(jì)或者調(diào)整夾具設(shè)計(jì)，或者按要求改變流程，使得應(yīng)力應(yīng)變數(shù)值回到允許范圍之內(nèi)。

ICT測(cè)試治具是一種專門對(duì)產(chǎn)品的功能、功率校準(zhǔn)、壽命、性能等進(jìn)行測(cè)試、試驗(yàn)的一種治具。其類型有以下三種：一、老化ICT測(cè)試治具：用于對(duì)產(chǎn)品或半成品進(jìn)行抗疲勞的試驗(yàn)，即進(jìn)行破壞性試驗(yàn)，判斷產(chǎn)品的使用壽命是否符合規(guī)定的期限的一種治具。二、功能ICT測(cè)試治具：是一種用來測(cè)試半成品/成品或生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的某一個(gè)工序，以此來判斷被測(cè)對(duì)象是否達(dá)到了初始設(shè)計(jì)者目的的機(jī)械輔助設(shè)備。三、鉆孔ICT測(cè)試治具：鉆孔ICT測(cè)試治具是一種可借由移動(dòng)模具以導(dǎo)引麻花鉆孔設(shè)備或其他鉆孔裝置到每個(gè)洞的準(zhǔn)確中心位置，并可在多個(gè)可互換零件上加速反復(fù)在洞孔中心定位的治具類型，在鐵工實(shí)務(wù)上，典型的作法是在鉆孔治具上的每個(gè)孔留有堅(jiān)硬套環(huán)以避免麻花鉆切到治具。評(píng)價(jià)ICT治具參數(shù)要求：植針率=植針網(wǎng)絡(luò)數(shù)/PCBA總網(wǎng)絡(luò)數(shù)≥85%。

ICT測(cè)試治具能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。ICT測(cè)試治具通過直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試快捷迅速，單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。在線測(cè)試通常是生產(chǎn)中首先道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。ICT測(cè)試治具測(cè)試過的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。ICT測(cè)試治具對(duì)產(chǎn)品的檢測(cè)有什么作用：是品質(zhì)的保障。溫州在線ICT儀器多少錢

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ICT測(cè)試治具，包括測(cè)試機(jī)構(gòu)，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)上設(shè)有用于適配安裝待測(cè)試電路板的容置區(qū)間以及與所述待測(cè)試電路板相對(duì)應(yīng)的若干探針，通過若干所述探針與待測(cè)試電路板接觸以進(jìn)行在線測(cè)試，還包括驅(qū)動(dòng)連接于所述測(cè)試機(jī)構(gòu)上的蓋章裝置，所述蓋章裝置包括雕刻工具以及與所述雕刻工具連接的浮動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述雕刻工具能借助所述浮動(dòng)機(jī)構(gòu)在設(shè)定位置區(qū)間內(nèi)軸向浮動(dòng)地抵壓在待測(cè)試電路板上，以對(duì)測(cè)試后的相應(yīng)電路板進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)。需要說明的是，該ICT測(cè)試治具在使用時(shí)，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)的若干探針是與現(xiàn)有的ICT測(cè)試儀相連接的，從而在探針與待測(cè)試電路板接觸后利用所述ICT測(cè)試儀在線測(cè)試電路板是否合格。深圳ICT儀器直銷廠家

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