東莞半導(dǎo)體晶圓誠(chéng)信推薦

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-03-22

    氣穴振蕩是一種混沌現(xiàn)象??栈瘹馀莸漠a(chǎn)生及其破裂受到很多物理參數(shù)的影響。這些猛烈的氣穴振蕩例如不穩(wěn)定的氣穴振蕩或微噴射將損傷這些圖案結(jié)構(gòu)(鰭結(jié)構(gòu)、槽和通孔)。在傳統(tǒng)的超聲波或兆聲波清洗過程中,只有當(dāng)功率足夠高,例如大于5-10瓦時(shí),才會(huì)產(chǎn)生***的顆粒去除效率(“pre”)。然而,當(dāng)功率大于約2瓦時(shí),晶圓開始有明顯的損傷。因此,很難找到功率窗口使得晶圓在被有效清洗時(shí)避免重大的損傷。因此,維持穩(wěn)定或可控的氣穴振蕩是控制聲波機(jī)械力低于損傷限度而仍然能夠有效地去除圖案結(jié)構(gòu)中的雜質(zhì)顆粒的關(guān)鍵。因此,提供一種系統(tǒng)和方法,用于控制在晶圓清洗過程中由超聲波或兆聲波設(shè)備產(chǎn)生的氣泡氣穴振蕩,以便能夠有效地去除細(xì)小的雜質(zhì)顆粒,而不會(huì)損傷晶圓上的圖案結(jié)構(gòu)。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:本發(fā)明提出一種清洗半導(dǎo)體晶圓的方法,包括在清洗過程中輸送清洗液到半導(dǎo)體晶圓表面;在該清洗過程中通過聲波換能器向清洗液傳遞聲能,以在***預(yù)定時(shí)段以***預(yù)定設(shè)置及在第二預(yù)定時(shí)段以第二預(yù)定設(shè)置交替向聲波換能器供電,其中,清洗液中的氣泡氣穴振蕩在***預(yù)定時(shí)段內(nèi)增大,在第二預(yù)定時(shí)段內(nèi)減小,***預(yù)定時(shí)段和第二預(yù)定時(shí)段連續(xù)的一個(gè)接著一個(gè),因此。半導(dǎo)體晶圓定制價(jià)格。東莞半導(dǎo)體晶圓誠(chéng)信推薦

    x0-x)│0x0-1=sx0p0ln(x0)(2)其中,s為汽缸截面的面積,x0為汽缸的長(zhǎng)度,p0為壓縮前汽缸內(nèi)氣體的壓強(qiáng)。方程式(2)不考慮壓縮過程中溫度增長(zhǎng)的因素,因此,由于溫度的增加,氣泡內(nèi)的實(shí)際壓強(qiáng)會(huì)更高,實(shí)際上由聲壓做的機(jī)械功要大于方程式(2)計(jì)算出的值。假設(shè)聲壓做的機(jī)械功部分轉(zhuǎn)化為熱能,部分轉(zhuǎn)換成氣泡內(nèi)高壓氣體和蒸汽的機(jī)械能,這些熱能完全促使氣泡內(nèi)部氣體溫度的增加(沒有能量轉(zhuǎn)移至氣泡周圍的液體分子),假設(shè)壓縮前后氣泡內(nèi)氣體質(zhì)量保持不變,氣泡壓縮一次后溫度增量δt可以用下面的方程式表達(dá):δt=q/(mc)=βwm/(mc)=βsx0p0ln(x0)/(mc)(3)其中,q是機(jī)械功轉(zhuǎn)換而來的熱能,β是熱能與聲壓所做的總機(jī)械功的比值,m是氣泡內(nèi)的氣體質(zhì)量,c是氣體的比熱系數(shù)。將β=,s=1e-12m2,x0=1000μm=1e-3m(壓縮比n=1000),p0=1kg/cm2=1e4kg/m2,氫氣的質(zhì)量m=,c=(kg0k)代入方程式(3),那么δt=℃。一次壓縮后氣泡內(nèi)的氣體溫度t1可以計(jì)算得出:t1=t0+δt=20℃+℃=℃(4)當(dāng)氣泡達(dá)到**小值1微米時(shí),如圖5b所示。在如此高溫下,氣泡周圍的液體蒸發(fā),隨后,聲壓變?yōu)樨?fù)值,氣泡開始增大。在這個(gè)反過程中,具有壓強(qiáng)pg的熱氣體和蒸汽將對(duì)周圍的液體表面做功。同時(shí)。東莞半導(dǎo)體晶圓定制價(jià)格半導(dǎo)體晶圓的采購(gòu)渠道有哪些?

    所述有機(jī)胺為二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、乙胺、二乙胺、三乙胺、三丙胺,N,N-二甲基乙醇胺、N,N-甲基乙基乙醇胺、N-甲基二乙醇胺和三乙醇胺一種或多種。所述有機(jī)羧酸選自丙二酸、草酸、乙二胺四乙酸鹽和檸檬酸中的一種或者多種。所述胍類為四甲基胍、碳酸胍、醋酸胍、3-胍基丙酸、聚六亞甲基胍和對(duì)胍基苯甲酸。所述清洗液的pH值為2~5。實(shí)施例3一種用于半導(dǎo)體晶圓等離子蝕刻殘留物的清洗液,其是由如下重量份數(shù)的原料組成:有機(jī)溶劑48份、氟化物12份、氯化物11份、甲基丙烯酸甲酯6份、有機(jī)胺7份、氨基酸14份、胍類15份、苯并三氮唑5份、有機(jī)羧酸19份、硫脲23份和水64份。所述有機(jī)溶劑為選自亞砜、砜、咪唑烷酮、吡咯烷酮、咪唑啉酮、酰胺和醚中的一種或多種。所述氟化物為氟化氫、或氟化氫與堿形成的鹽。所述有機(jī)胺為二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、乙胺、二乙胺、三乙胺、三丙胺,N,N-二甲基乙醇胺、N,N-甲基乙基乙醇胺、N-甲基二乙醇胺和三乙醇胺一種或多種。所述有機(jī)羧酸選自丙二酸、草酸、乙二胺四乙酸鹽和檸檬酸中的一種或者多種。所述胍類為四甲基胍、碳酸胍、醋酸胍、3-胍基丙酸、聚六亞甲基胍和對(duì)胍基苯甲酸。

    本發(fā)明涉及半導(dǎo)體晶圓清洗領(lǐng)域,更具體地,涉及采用可控聲能的濕法清洗方法和裝置。背景技術(shù):半導(dǎo)體器件是在半導(dǎo)體晶圓上采用一系列的處理步驟來制造晶體管和互連元件。近來,晶體管的建立由兩維到三維,例如鰭型場(chǎng)效應(yīng)晶體管?;ミB元件包括導(dǎo)電的(例如金屬)槽、通孔等形成在介質(zhì)材料中。為了形成這些晶體管和互連元件,半導(dǎo)體晶圓經(jīng)過多次掩膜、蝕刻和沉積工藝以形成半導(dǎo)體器件所需的結(jié)構(gòu)。例如,多層掩膜和等離子體刻蝕步驟可以在半導(dǎo)體晶圓上的電介質(zhì)層中形成作為鰭型場(chǎng)效應(yīng)晶體管的鰭的凹進(jìn)區(qū)域和互連元件的槽和通孔。為了去除刻蝕或光刻膠灰化后在鰭結(jié)構(gòu)和/或槽和通孔內(nèi)的顆粒和污染物,必須進(jìn)行濕法清洗。然而,濕法過程中使用的化學(xué)液可能會(huì)導(dǎo)致側(cè)壁損失。當(dāng)器件制造節(jié)點(diǎn)不斷接近或小于14或16nm,鰭和/或槽和通孔的側(cè)壁損失是維護(hù)臨界尺寸的關(guān)鍵。為了減少或消除側(cè)壁損失,應(yīng)當(dāng)使用溫和的或稀釋的化學(xué)液,有時(shí)甚至只使用去離子水。然而,溫和的或稀釋的化學(xué)液或去離子水通常不能有效去除鰭結(jié)構(gòu)和/或槽和通孔內(nèi)的微粒,因此,需要使用機(jī)械力來有效去除這些微粒,例如超聲波/兆聲波。超聲波/兆聲波會(huì)產(chǎn)生氣穴振蕩來為晶圓結(jié)構(gòu)的清洗提供機(jī)械力。然而。半導(dǎo)體晶圓銷售廠家、。

    因?yàn)榍逑匆旱臏囟冗h(yuǎn)低于氣體和/或蒸汽溫度。在一些實(shí)施例中,直流輸出的振幅,可以是正的也可以是負(fù)的,可以大于(圖片中未顯示),等于(如圖16a和16b所示)或小于(如圖16c所示)在τ1時(shí)間段內(nèi)用于在清洗液中制造氣穴振蕩的電源輸出功率p1。圖17揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的晶圓清洗工藝。該晶圓清洗工藝也與圖7a-7e所示的相類似,除了圖7d所示的步驟7050。該晶圓清洗工藝使電源輸出的相位反相,同時(shí)保持在時(shí)間段τ1內(nèi)施加的相同頻率f1,因此,氣泡氣穴振蕩能夠迅速停止。結(jié)果,氣泡內(nèi)氣體和/或蒸汽的溫度開始降低,因?yàn)榍逑匆旱臏囟冗h(yuǎn)低于氣體和/或蒸汽溫度。參考圖17所示,在τ2時(shí)間段內(nèi)電源輸出功率水平為p2,在不同的實(shí)施例中,p2可以大于、等于或小于在τ1時(shí)間段內(nèi)電源輸出功率水平p1。在一個(gè)實(shí)施例中,只要相位相反,時(shí)間段τ2內(nèi)的電源頻率可以不同于f1。在一些實(shí)施例中,超聲波或兆聲波的電源輸出頻率f1在。圖18a-18j揭示了氣泡氣穴振蕩控制增強(qiáng)晶圓上通孔或槽內(nèi)的新鮮清洗液的循環(huán)。圖18a揭示了形成在晶圓18010上的多個(gè)通孔18034的剖視圖。通孔的開孔直徑表示為w1。通孔18034中由聲波能量產(chǎn)生的氣泡18012增強(qiáng)了對(duì)雜質(zhì)的去除,如殘留物和顆粒。什么才可以稱為半導(dǎo)體晶圓?鄭州半導(dǎo)體晶圓歡迎選購(gòu)

國(guó)外半導(dǎo)體晶圓產(chǎn)品品質(zhì)怎么樣?東莞半導(dǎo)體晶圓誠(chéng)信推薦

    所述橫條的頂面上固設(shè)有第二齒牙,所述第二齒牙可與所述***齒牙嚙合。進(jìn)一步的技術(shù)方案,所述從動(dòng)腔的后側(cè)開設(shè)有蝸輪腔,所述旋轉(zhuǎn)軸向后延伸部分均伸入所述蝸輪腔內(nèi),且其位于所述蝸輪腔內(nèi)的外周上均固設(shè)有蝸輪,所述蝸輪腔的左壁固設(shè)有***電機(jī),所述***電機(jī)的右側(cè)面動(dòng)力連接設(shè)有蝸桿,所述蝸桿的右側(cè)面與所述蝸輪腔的右壁轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述蝸桿與所述蝸輪嚙合。進(jìn)一步的技術(shù)方案,所述穩(wěn)定機(jī)構(gòu)包括限制塊,所述橫板向右延伸部分伸出外界,且其右側(cè)面固設(shè)有手拉塊,所述橫板內(nèi)設(shè)有開口向上的限制腔,所述從動(dòng)腔的上側(cè)連通設(shè)有滑動(dòng)腔,所述滑動(dòng)腔與所述送料腔連通,所述限制塊滑動(dòng)設(shè)在所述滑動(dòng)腔的右壁上,所述限制塊向下滑動(dòng)可插入所述限制腔內(nèi),所述限制塊向下延伸部分貫穿所述送料腔,并伸入所述從動(dòng)腔內(nèi),且其位于所述橫條上側(cè),所述第二齒牙可與所述限制塊抵接,所述限制塊的頂面固設(shè)有拉桿,所述拉桿向上延伸部分伸出外界,且其頂面固設(shè)有手握球,所述限制塊頂面與所述滑動(dòng)腔的頂壁之間固定安裝有彈簧。進(jìn)一步的技術(shù)方案,所述升降塊的內(nèi)壁里固嵌有第二電機(jī),所述第二電機(jī)的右側(cè)面動(dòng)力連接設(shè)有切割軸,所述切割片固設(shè)在所述切割軸的右側(cè)面上。東莞半導(dǎo)體晶圓誠(chéng)信推薦

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