當今的電子設計工程師可以分成兩種,一種是已經遇到了信號完整性問題,一種是將要遇到信號完整性問題。對于未來的電子設備,頻率越來越高,射頻元器件越來越小,越來越集中化、模塊化。因此電磁信號未來也會變得越來越密集,所以提前學習信號完整性和電源完整性相關的知識可能對于我們對于電路的設計更有益處吧。對信號完整性和電源完整性分析中常常分為五類問題:1、單信號線網的三種退化(反射、電抗,損耗)反射:一般都是由于阻抗不連續(xù)引起的,即沒有阻抗匹配。反射系數=ZL-ZO/(ZL+ZO),其中ZO叫做特性阻抗,一般情況下中都為50Ω。為啥是50Ω,75Ω的的傳輸損耗小,33Ω的信道容量大,所以選擇了他們的中間數50Ω。下圖為點對電拓撲結構四種常用端接。 信號完整性包含數字示波器,邏輯分析儀。北京信號完整性測試安裝
2.4互連建模以提取互連特性將測得的數據作為時域響應或頻域響應顯示,意味著相比局限于一個域而言,我們可以很容易地提取更多信息。此外,將頻域插入損耗和回波損耗的值以Touchstone格式文件導出,我們就能夠使用先進的建模工具,如KeysightADS來提取更多的信息。在此例中,我們將看到均勻的8英寸長微帶,以及我們如何使用建模和仿真工具來提取材料特性。描述物理互連簡單的模型是一條理想傳輸線。我們可以使用ADS內置的多層互連庫(MIL)來構建這條微帶的物理模型,將材料特性參數化,然后提取它們的值。廣西信號完整性測試價格優(yōu)惠信號完整性噪聲問題有關的四類噪聲源;
什么是信號完整性?
隨著帶寬范圍提升,查看小信號或大信號的細微變化的需求增加,示波器自身的信號完整性的重要性已進一步提升。為什么信號完整性被視為示波器的關鍵指標?信號完整性對示波器整體測量精度的影響非常大,它對波形形狀和測量結果準確性的影響會出乎您的想象。示波器性能取決于其自身信號完整性的良莠,比如說信號失真、噪聲和損耗。自身的信號完整性高的示波器能夠更好地顯示被測信號的細節(jié);反之,如果自身的信號完整性很差,示波器便無法準確反映被測信號。示波器自身信號完整性方面的差異直接影響到工程師能否高效地對設計進行深入分析、理解、調試和評估。示波器的信號完整性不佳,將對產品開發(fā)周期、產品質量以及元器件的選擇帶來巨大風險。要避免這種風險,只有通過比較和評測,選擇一臺具有出色信號完整性的示波器才是解決之道。
2.3 測量插入損耗和回波損耗在簡單的應用中,TDR 的端口與單端傳輸線的末端相連。端口 1 是我們所熟悉的 TDR 響應,而通道 2 是發(fā)射的信號。如圖 29 所示,在一條均勻的 8 英寸微帶傳輸線的 TDR 響應中,線末端的阻抗為 50 歐姆。這個阻抗來自與被測件末端相連的電纜,終連接到 TDR 第二通道內的源端。
8英寸長微帶傳輸線在20毫伏/格和500皮秒/格刻度下的TDR/TDT響應。此應用的時基為500皮秒/格,垂直刻度為20毫伏/格。游標用于提取47.4歐姆的線阻抗。注意綠線,即通過互連發(fā)送的信號,在100毫伏/格的刻度上,它顯示出信號進入線的前端、正好在中途出來、反射離開后端,然后在源端接收。TDR信號著眼于信號在互連上的往返時間,然后再回到前端,而TDT信號則著眼于通過互連的單程。在時域顯示中,我們可以看到在線兩端加載SMA的阻抗不連續(xù),并且能看到它不是完全均勻的傳輸線。以20毫伏/格的刻度或10%/格的反射系數來看,阻抗變化約為1歐姆。 單根傳輸線的信號完整性問題?
ADC位數和小分辨率模數轉換器(ADC)是確保示波器自身信號完整性的關鍵技術。ADC位數與示波器的分辨率成正比。理論上講,10位ADC示波器的分辨率比8位ADC示波器高4倍。同理,12位ADC示波器相對于10位ADC示波器也是如此。圖2以10位ADCIn?niiumS系列示波器為例,實際驗證了上述結論。
多數示波器都是采用8位ADC,而S系列示波器采用的是40GSa/s10位ADC,分辨率提升了四倍。分辨率是指由示波器中的模數轉換器(ADC)所決定的小量化電平。8位ADC可將模擬輸入信號編碼為28=256個電平,即量化電平或Q電平。ADC在示波器量程內工作,因此在電流和電壓測量中,量化電平的步長與示波器的量程設置有關。如果垂直設置為100mV/格,則量程等于800mV(8格x100mV/格),量級電平分辨率就是3.125mV(即,800mV除以256個量化電平)。 信號完整性測試有波形測試、眼圖測試、抖動測試;北京信號完整性測試安裝
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信號校準服務默認情況下,當矢量網絡分析儀(VNA)開啟時,其參考平面位于前面板。將電纜連接到被測設備時,校準參考必須使用短路-開路-負載-直通法(SOLT)、直通反射線或直通反射匹配參考結構。SOLT是常見的方法。電纜可以直接連接到DUT或夾具。夾具安裝在電纜和DUT之間,有助于兼容不同類型的連接器,例如HDMI、顯示端口、串行ATA和PCIExpress。在本示例中,校準參考面包括電纜,而去嵌入參考面包括夾具。將校準誤差校正和去嵌入相結合時,必須包括通道中與DUT的所有互連。連接DUT后,您就可以進行測量,并執(zhí)行測量后(去嵌入)誤差校正。北京信號完整性測試安裝