名優(yōu)測(cè)量?jī)x器規(guī)格尺寸

量設(shè)備不僅包含—般的測(cè)量?jī)x器．而且包含了各等級(jí)的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)，各類標(biāo)淮物質(zhì)和實(shí)物量具，還包含和測(cè)量設(shè)備連接的各種輔助設(shè)備，以及進(jìn)行測(cè)量所必須的資料和軟件。從定義上看測(cè)量設(shè)備它包括了檢驗(yàn)設(shè)備和試驗(yàn)設(shè)備。 定義的廣義性是從ISO 9000 標(biāo)準(zhǔn)的生產(chǎn)全過(guò)程實(shí)施質(zhì)量控制所決定的。內(nèi)容的擴(kuò)展性測(cè)量設(shè)備不僅只只指測(cè)量?jī)x器本身、而又?jǐn)U大到輔助設(shè)備，因?yàn)橛嘘P(guān)的輔助設(shè)備將直接影響測(cè)量的準(zhǔn)確可靠件。這里主要指本身不能給出量值而沒(méi)有它又不能進(jìn)行測(cè)量的設(shè)備，也包括作為檢驗(yàn)手段用的工具、工裝、定位器、模具等試驗(yàn)硬件或軟件?？梢?jiàn)作為測(cè)量設(shè)備的輔助設(shè)備對(duì)保證測(cè)量的統(tǒng)一和服確十分重要。鏡頭托架粗糙度測(cè)量?jī)x器。名優(yōu)測(cè)量?jī)x器規(guī)格尺寸

比較測(cè)量:比較法是指被測(cè)量與已知的同類度量器在比較器上進(jìn)行比較，從而求得被測(cè)量的一種方法。這種方法用于高準(zhǔn)確度的測(cè)量。零位法:被測(cè)量與已知量進(jìn)行比較，使兩者之間的差值為零，這種方法稱為零位法。例如電橋、天平、桿秤 、檢流計(jì)偏位法 :被測(cè)量直接作用于測(cè)量機(jī)構(gòu)使指針等偏轉(zhuǎn)或位移以指示被測(cè)量大小。替代法 :替代發(fā)是將被測(cè)量與已知量先后接入同一測(cè)量?jī)x器，在不改變儀器的工作狀態(tài)下，使兩次測(cè)量?jī)x器的示值相同，則認(rèn)為被測(cè)量等于已知量。例如曹沖稱象。累積法:被測(cè)量的物體的量值太小，不能夠用測(cè)量?jī)x器直接測(cè)量單一的物體，則測(cè)量相同規(guī)格的物體圍攏再求其平均值的方法，如測(cè)量一張紙張的厚度，一根頭發(fā)絲的直徑，一顆訂書(shū)針的質(zhì)量等折疊福建測(cè)量?jī)x器工程測(cè)量手動(dòng)影像測(cè)量?jī)x依靠人工操作控制測(cè)量平臺(tái)的X、Y軸的移動(dòng)。

測(cè)量設(shè)備必須符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及其工藝文件的要求或預(yù)期使用要求，可從相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、顧客、產(chǎn)品性能、工藝圖紙的要求中找出相關(guān)的技術(shù)參數(shù)，再將技術(shù)參數(shù)轉(zhuǎn)換成測(cè)量要求，由此測(cè)量要求再根據(jù)1 /4以上的原則（即測(cè)量設(shè)備比較大允許誤差應(yīng)優(yōu)于至少測(cè)量的公差或容差的1 /4以上），將其轉(zhuǎn)換為計(jì)量要求。計(jì)量要求主要包括：測(cè)量范圍、分辨力、比較大允許誤差等。計(jì)量要求并不是要求越高越好，而是只要滿足使用的需要即可。可見(jiàn)它并不是指某臺(tái)或某類設(shè)備，而是對(duì)測(cè)量所包括的硬件和軟件的統(tǒng)稱。

較初速測(cè)儀的距離測(cè)量是通過(guò)光學(xué)方法來(lái)實(shí)現(xiàn)的，我們稱這種速測(cè)儀為“光學(xué)速測(cè)儀”。實(shí)際上，“光學(xué)速測(cè)儀”就是指帶有視距絲的經(jīng)緯儀，被測(cè)點(diǎn)的平面位置由方向測(cè)量及光學(xué)視距來(lái)確定，而高程則是用三角測(cè)量方法來(lái)確定的。隨著電子測(cè)距技術(shù)的出現(xiàn)，逐漸地推動(dòng)了速測(cè)儀的發(fā)展。用電磁波測(cè)距儀代替光學(xué)視距經(jīng)緯儀，使得測(cè)程更大、測(cè)量時(shí)間更短、精度更高。人們將距離由電磁波測(cè)距儀測(cè)定的速測(cè)儀籠統(tǒng)地稱之為“電子速測(cè)儀”（Electronic Tachymeter）。然而，隨著電子測(cè)角技術(shù)的出現(xiàn)。這一“電子速測(cè)儀”的概念又相應(yīng)地發(fā)生了變化，根據(jù)測(cè)角方法的不同分為半站型電子速測(cè)儀和全站型電子速測(cè)儀。精密結(jié)構(gòu)件檢測(cè)儀器。

測(cè)量誤差的性質(zhì)(1)隨機(jī)誤差對(duì)同一被測(cè)量進(jìn)行多次重復(fù)測(cè)量時(shí),相對(duì)值和符號(hào)不可預(yù)知地隨機(jī)變化,但就誤差的總體而言,具有一定的統(tǒng)計(jì)規(guī)律性的誤差稱為隨機(jī)誤差。引起的原因是測(cè)量過(guò)程中測(cè)量人員和測(cè)量設(shè)備的隨機(jī)因素造成的，在測(cè)量過(guò)程中是不可避免的，只能通過(guò)提高測(cè)量實(shí)施人員的測(cè)量技術(shù)技能，改善測(cè)量方法或提高測(cè)量?jī)x器儀表系統(tǒng)的精度來(lái)減少隨機(jī)誤差。(2)系統(tǒng)誤差對(duì)同一被測(cè)量進(jìn)行多次重復(fù)測(cè)量時(shí),如果誤差按照一定的規(guī)律出現(xiàn),則把這種誤差稱為系統(tǒng)誤差。例如,標(biāo)準(zhǔn)量值的不準(zhǔn)確及儀表刻度的不準(zhǔn)確而引起的誤差。引起的原因，主要是由于測(cè)量實(shí)施方案或測(cè)量?jī)x器儀表系統(tǒng)的不完善造成的，可以通過(guò)改進(jìn)完善測(cè)量方案或改進(jìn)測(cè)量?jī)x器儀表系統(tǒng)來(lái)減少系統(tǒng)誤差。它可以測(cè)量很多復(fù)雜的空間尺寸：如模具和汽車產(chǎn)品。綜合測(cè)量?jī)x器

一般測(cè)量工具和3D測(cè)量工具（三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)又叫三次元）三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)又叫三次元 。名優(yōu)測(cè)量?jī)x器規(guī)格尺寸

幾何量測(cè)量?jī)x器根據(jù)構(gòu)造上的特點(diǎn)還可以分為以下幾種。游標(biāo)式測(cè)量?jī)x器如游標(biāo)卡尺。游標(biāo)高度尺及游標(biāo)量角器等。微動(dòng)螺旋副式測(cè)量?jī)x器如外徑千分尺、內(nèi)徑千分尺及公法線千分尺等。機(jī)械式測(cè)量?jī)x器如百分表、千分表、杠桿比較儀、扭簧比較儀及三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等。光學(xué)機(jī)械式測(cè)量?jī)x器如光學(xué)計(jì)、測(cè)長(zhǎng)儀、投影儀、接觸干涉儀、干涉顯微鏡、光切顯微鏡、工具顯微鏡及測(cè)長(zhǎng)機(jī)等。氣動(dòng)式測(cè)量?jī)x器如流量計(jì)式、氣壓計(jì)式等。電學(xué)式測(cè)量?jī)x器如電接觸式、電感式、電容式、磁柵式、電渦流式及感應(yīng)同步器等。光電式測(cè)量?jī)x器如激光干涉儀、激光準(zhǔn)直儀、激光絲桿動(dòng)態(tài)測(cè)量、光柵式測(cè)量?jī)x以及影像測(cè)量?jī)x等。名優(yōu)測(cè)量?jī)x器規(guī)格尺寸

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