西安UFS分析儀報價

    會將一個Pod對保留用于時間標簽存儲。選擇了除小采樣周期之外的采樣周期時，選擇采集內(nèi)存深度需要將一個Pod對保留用于時間標簽存儲。在這種情況下，將內(nèi)存深度設(shè)置為值的一半（或更小）將返回Pod。該模塊是已分離的邏輯分析儀的一部分。在這種情況下，Pod位于分離分析儀的另一半模塊中。狀態(tài)模式和跳變定時模式下通道數(shù)、內(nèi)存深度和觸發(fā)之間的相互影響：狀態(tài)采樣模式時，時間標簽存儲需要1個Pod或1/2的采集內(nèi)存。在操作界面應用程序中，所有模塊都與時間相關(guān)；不能關(guān)閉timetagstorage（時間標簽存儲）（雖然以前的Agilent邏輯分析系統(tǒng)可以）。要使用1/2以上的模塊采集內(nèi)存，必須將一個Pod保留用于時間標簽存儲。要使用所有Pod，內(nèi)存使用量不能超過模塊采集內(nèi)存的1/2。一般來說，可用定時器數(shù)與那些不屬于為時間標簽存儲而保留的Pod數(shù)相同。默認設(shè)置：時間標簽存儲始終處于開啟狀態(tài)（并且不能將其關(guān)閉）。歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓練器,I3C協(xié)議分析儀及訓練器。I2C/SPI協(xié)議分析儀/訓練器找歐奧！西安UFS分析儀報價

    因為傳遞過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負載效應主要分為兩種類型：直流負載和交流負載。直流負載：探頭看起來象一個對地的直流負載，一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個負載可能會導致邏輯錯誤。直流負載主要由探頭尖的電阻決定，這個電阻阻值越，直流負載越小，阻值越小，直流負載越。交流負載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會減小探頭帶寬和導致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個方面：探頭電容和探頭與目標連接的連線的電容。探頭導致信號反射的原因是4個方面：探頭電容和電感。探頭在被測總線上的探測位置；總線的拓撲結(jié)構(gòu)；探頭和目標間連線的長度。對于交流負載，我們需要考慮：探測點在傳輸線的位置，總線的拓撲結(jié)構(gòu)和探頭和目標間連線的長度。探頭的負載除了可以用復雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡單的RC模型簡單預估負載效應。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細考慮探頭和目標之間的連線。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線探測（StubProbing),阻尼電阻探測。嘉興I2C/SPI分析儀售價PCIE協(xié)議分析儀/訓練器找歐奧！

    UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓練器,I3C協(xié)議分析儀及訓練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓練器,車載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務。系統(tǒng)的電流負載能力一般在幾個KΩ以上，分流效應對系統(tǒng)的影響一般可以忽略，現(xiàn)在流行的幾種長邏輯分析儀探頭的阻抗一般在20~200KΩ之間。b、探頭的容性負載:容性負載就是探頭接入系統(tǒng)時，探頭的等效電容，這個值一般在1~30PF之間，在高速系統(tǒng)中，容性負載對電路的影響遠遠于阻性負載，如果這個值太，將會直接影響整個系統(tǒng)中的信號"沿"的形狀改變整個電路的性質(zhì)，改變邏輯分析儀對系統(tǒng)觀測的實時性，導致我們看到的并不是系統(tǒng)原有的特性。c、探頭的易用性:是指探頭接入系統(tǒng)時的難易程度，隨著芯片封裝的密度越來越高，出現(xiàn)了BGA、QFP、TQFP、PLCC、SOP等各種各樣的封裝形式，IC的腳間距小的已達到，要很好的將信號引出，特別是BGA封裝。

    我們會找到信號與上升的Vref值交叉的位置。如果Vref升至足夠高，信號的頂部軌跡將通過Vref，我們便會看到眼的頂端。再將Vref升高一點會導致Vcomp保持在Vlo，表示信號不會升至該電之，將Vref移至零以下會看到眼的下半部。eyescan/eyefinder顯示窗口會在每個信號的eyescan圖下方顯示eyefinder交疊部分，以此顯示eyefinder與eyescan之間的這一關(guān)系。通過在eyescan圖中將Vth水平線向上和向下移動，可以獲得距離眼中心該偏移量位置處的eyefinder視圖。無論用戶界面中的閾值如何設(shè)置，邏輯分析儀的差分輸入將始終應用于接收器。這意味著可通過將電壓閾值手動設(shè)置為非零值允許在差分對中使用公共模式電壓。如果信號擺幅中心與地線差距于100mV，eyescan將自動執(zhí)行此操作。邏輯分析儀的觸發(fā)設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)非常困難，而且還需花費量時間。假設(shè)如果知道如何編程，則應該可以毫不費力地設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)。然而，這是不可能的，因為許多概念對邏輯分析來說都是的。本節(jié)的目的就是介紹這些主要概念及如何有效地使用它們。傳送帶類比：我們可以將邏輯分析儀的內(nèi)存比作一條很長的傳送帶，而從被測設(shè)備(DUT)獲取的樣本就像是傳送帶上的箱子。新的箱子被放置在傳送帶一端。協(xié)議分析儀廠家哪家強？歐奧強！

    才能符合此表達式。換句話說，在ADDR等于1000的同時DATA等于2000。因此，如果要在同時發(fā)生兩個事件時觸發(fā)，則應使用布爾邏輯表達式。常見錯誤是應使用布爾邏輯表達式時嘗試使用兩個序列步驟，或者應使用兩個序列步驟時嘗試使用布爾邏輯表達式。當多個事件同時發(fā)生時使用布爾邏輯表達式，而在一個事件接著一個事件發(fā)生時使用多個序列步驟。分支：分支類似于C編程語言中的Switch語句和Basic中的SelectCase語句。分支可提供測試多個sADDR”。多數(shù)邏輯分析儀還支持“notinrange”功能。范圍是一種方便的快捷方式，因此您無需指定“ADDR>=1000andADDR<=>標志：標志是用于從一個模塊向另一個模塊發(fā)送信號的布爾變量。當某種情況在某一模塊中發(fā)生而稍后被另一模塊測試時可以設(shè)置標志。在下面的示例中，標志1用于跟蹤在模塊1的觸發(fā)序列中發(fā)生的情況，如，如果想在ADDR=1000第5次出現(xiàn)時觸發(fā)，可以將觸發(fā)設(shè)置為：IfADDR=1000occurs5timesthenTrigger全局計數(shù)器類似于整數(shù)變量。全局計數(shù)器比發(fā)生計數(shù)器更靈活，因為它們可用于為復雜事件（例如一個時鐘沿后跟另一時鐘沿的事件）計數(shù)。可以增加、測試和重新設(shè)置全局計數(shù)器。默認情況下，全局計數(shù)器以零開頭并且不需要重新設(shè)置。eMMC協(xié)議分析儀/訓練器廠家就找歐奧！徐州SDIO分析儀售價

USB PD,3.1, 3.0,2.0協(xié)議分析儀/訓練器找歐奧！西安UFS分析儀報價

    就無法區(qū)分給定信號轉(zhuǎn)變區(qū)域是與時鐘上升沿相關(guān)聯(lián)，還是與下降沿（或兩者）相關(guān)聯(lián)。眼定位工作原理：通過邏輯分析儀使用少量的偏移延遲對每個通道進行雙重采樣的功能，以及通過使用獨有的OR操作比較延遲的樣本可進行眼定位測量。圖14眼定位工作原理當獨有的OR輸出很高時，延遲的樣本會有所差別，并且會在延遲時間之間檢測到轉(zhuǎn)變。由于采樣信號的不穩(wěn)定和其他變化，眼定位測量將對每對延遲值的多個時鐘進行檢查，以便報告兩次延遲時間之間發(fā)生轉(zhuǎn)變的頻率。然后，檢查另一對延遲值，依次類推，直到掃描完轉(zhuǎn)變的整個時間范圍。圖15延遲值記錄因為邏輯分析儀可以調(diào)整通道的閾電壓，所以眼定位測量可在很多閾電壓電平隨著時間的推移對轉(zhuǎn)變進行重復掃描。圖16眼定位的多閾值掃描通過調(diào)整閾電壓和查看活動指示符，眼定位可查找信號活動信封并確定佳閾電壓；然后通過在該閾值執(zhí)行全時掃描，眼定位可找出樣本位置。圖17眼定位的閾值和采樣位置掃描也可以在當前閾電壓設(shè)置下運行全時掃描，以便自動設(shè)置采樣位置。圖18掃描采樣位置自動閾值和采樣位置設(shè)置掃描通常足以確保正確采集數(shù)據(jù)，但它還可以識別您想要進一步詳細查看的信號（例如，如果您想查看延遲、衰減等）。西安UFS分析儀報價